[发明专利]用于控制工业过程特别是激光焊接过程的质量的方法有效
申请号: | 200510004481.4 | 申请日: | 2005-01-12 |
公开(公告)号: | CN1641504A | 公开(公告)日: | 2005-07-20 |
发明(设计)人: | G·德安杰罗;G·帕斯凯塔兹;A·特雷诺 | 申请(专利权)人: | C.R.F.阿西安尼顾问公司 |
主分类号: | G05B23/00 | 分类号: | G05B23/00;B23K26/03 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 邹光新;叶恺东 |
地址: | 意大利奥*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | 一种用于控制工业过程的质量的方法,包括步骤:为该工业过程提供一个或多个参考信号(xref);获取表示所述工业过程的质量的一个或多个实际信号(xreal);和比较所述一个或多个参考信号(xref)与所述一个或多个实际信号(xreal),以鉴别在所述工业过程中的缺陷。根据本发明,该方法还包括操作:获得从所述参考信号(xref)变换的信号(xref_inv_norm);获得从所述实际信号(xreal)变换的信号(Xreal_inv_norm);和分别计算所述变换的参考信号(xref_inv_norm)和所述变换的实际信号(Xreal_inv_norm)的能量(Eref、Ereal),所述比较操作包括:将所述变换的参考信号(xref_inv_norm)和所述变换的实际信号(Xreal_inv_norm)的能量(Eref、Ereal)相互进行比较,以提取所选频率值(f_e)的相对应的时频分布(Tfdref、Tfdreal);计算所述时频分布(Tfdref、Tfdreal)的能量(Etref、Etreal);和将所述时频分布(Tfdref、Tfdreal)的能量与阈值(max_Tfdref)进行比较,以标识与缺陷相关联的能量值。 | ||
搜索关键词: | 用于 控制 工业 过程 特别是 激光 焊接 质量 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于控制工业过程的质量的方法,包括步骤:为该工业过程提供一个或多个参考信号(xref);获取表示所述工业过程的质量的一个或多个实际信号(xreal);和比较所述一个或多个参考信号(xref)与所述一个或多个实际信号(xreal),以鉴别在所述工业过程中的缺陷,其特征在于其进一步包括操作:获得从所述参考信号(xref)变换的信号(Xref_inv_norm);获得从所述实际信号(xreal)变换的信号(Xreal_inv_norm);和分别计算所述变换的参考信号(Xref_inv_norm)和所述变换的实际信号(Xreal_inv_norm)的能量(Eref、Ereal),所述比较操作包括:将所述变换的参考信号(Xref_inv_norm)和所述变换的实际信号(Xreal_inv_norm)的能量(Eref、Ereal)相互进行比较,以提取所选频率值(f_e)的相对应的时频分布(Tfdref、Tfdreal);计算所述时频分布(Tfdref、Tfdreal)的能量(Etref、Etreal);和将所述时频分布(Tfdref、Tfdreal)的能量与阈值(max_Tfdref)进行比较,以标识与缺陷相关联的能量值。
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