[发明专利]半导体器件有效

专利信息
申请号: 200510004785.0 申请日: 2005-01-26
公开(公告)号: CN1665028A 公开(公告)日: 2005-09-07
发明(设计)人: 清水和宏 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L29/78
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的课题是提供能容易地得到所希望的耐压的半导体器件。在被p杂质区3划分了的高电位岛区201内的n半导体层2中形成了n+杂质区52,在n+杂质区52与p杂质区3之间的n半导体层2的上方以多层方式形成了第1场板55a~55e和多个第2场板。上层的第2场板位于下层的第1场板间的间隙的上方,在其上通过了布线30。第2场板中最接近于p杂质区3的第2场板在布线30的下方具有切断部位,在该切断部位的下方的第1场板间的间隙中与该第1场板分离地形成了电极56。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体器件,其特征在于:具备:第1导电类型的半导体衬底;在上述半导体衬底上设置的第2导电类型的半导体层;在上述半导体层中划分预定区域的上述第1导电类型的第1杂质区,该第1杂质区从上述半导体层的上表面延伸到上述半导体层与上述半导体衬底的界面而设置于上述半导体层内部;在上述预定区域外的上述半导体层中设置的半导体元件;以及在上述预定区域内的上述半导体层中设置的MOS晶体管,上述MOS晶体管包含:上述第2导电类型的第2杂质区,该第2杂质区设置于上述预定区域内的上述半导体层的上表面内且杂质浓度比上述半导体层的杂质浓度高;以及电连接到上述第2杂质区上的漏电极,上述半导体器件还具备:在上述第1杂质区与上述第2杂质区之间的上述半导体层上设置的第1绝缘膜;在上述第1绝缘膜上,沿着从上述第1杂质区朝向上述第2杂质区的方向互相分离地设置的多个第1场板;覆盖上述多个第1场板而设置于上述第1绝缘膜上的第2绝缘膜;在上述第2绝缘膜上,沿着从上述第1杂质区朝向上述第2杂质区的方向互相分离地设置的多个第2场板;覆盖上述多个第2场板而设置于上述第2绝缘膜上的第3绝缘膜;以及设置于上述第3绝缘膜上的布线,该布线通过上述多个第1场板和上述多个第2场板的上方来电连接上述漏电极与上述半导体元件,上述多个第1场板中最接近于上述第1杂质区的第1场板是上述MOS晶体管的栅电极,上述多个第2场板分别设置于上述多个第1场板间的间隙的上方,上述多个第2场板中最接近于上述栅电极的第2场板在上述布线的下方具有切断部位,在上述多个第1场板间的间隙内,在位于上述切断部位的下方的间隙中与上述多个第1场板分离地设置了电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三菱电机株式会社,未经三菱电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510004785.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top