[发明专利]非接触式测试与诊断电通路的方法和装置无效
| 申请号： | 200510005134.3 | 申请日： | 2005-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN1690723A | 公开（公告）日： | 2005-11-02 |
| 发明（设计）人： | 肯尼思·P·帕克;克里斯·R·雅各布森;迈伦·J·施奈德 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 柳春雷 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种能够测试通过电路组件的电通路的设备。该设备可以包括用于对所述电路组件的连接器进行测试的非接触式连接器测试探头。还公开了一种测试通过电路组件的电通路的连续性的方法。在该方法中，激励电路组件的一个或者多个节点，将电路组件上连接器的连接器引脚电容性耦合到非接触式连接器测试探头，并且通过耦合到非接触式连接器测试探头的测试器来测量电特性，以判断通过电路组件的电通路的连续性。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 测试 诊断 通路 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种非接触式测试探头，用于测试通过电路组件的连接器的电通路连续性，所述非接触式测试探头包括：具有感应孔的底部法拉第屏蔽板；顶部法拉第屏蔽板；和布置在所述顶部和底部法拉第屏蔽板之间的感应板。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安捷伦科技有限公司，未经安捷伦科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200510005134.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于上升式安装台的导向设备
- 下一篇：铜电镀的电解液
