[发明专利]电子装置程序的测试方法无效

专利信息
申请号: 200510005591.2 申请日: 2005-01-21
公开(公告)号: CN1808397A 公开(公告)日: 2006-07-26
发明(设计)人: 郑耀杰 申请(专利权)人: 明基电通股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 蒲迈文;黄小临
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种电子装置程序的测试方法。首先,加载电子装置程序于计算机中一程序存储器。接着,执行电子装置程序,若发生一存储器存取错误,则该操作系统执行一错误处理例程。错误处理例程首先撷取导致存储器错误的一指令码的地址,接着,依据程序代码的地址,于程序存储器修改指令码,以防止存储器存取错误。
搜索关键词: 电子 装置 程序 测试 方法
【主权项】:
1.一种程序的测试方法,适用于一计算机系统测试一电子装置程序,该计算机系统运作于一操作系统,该测试方法包括:加载该电子装置程序于该计算机系统内的一程序存储器;执行该电子装置程序,若发生一存储器存取错误,撷取导致该存储器存取错误的一指令码的地址;及依据该指令码的地址,于该程序存储器修改该指令码,以防止该存储器存取错误。
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