[发明专利]半导体薄片材料的横向研磨方法无效

专利信息
申请号: 200510006190.9 申请日: 2005-01-31
公开(公告)号: CN1815695A 公开(公告)日: 2006-08-09
发明(设计)人: 陈弘达;裴为华 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L21/304 分类号: H01L21/304;B24B37/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 100083北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种半导体薄片材料的横向研磨方法,包括一用于研磨的研磨机,该研磨机包括:一升降平台,一电机,该电机置于升降平台上,电机的轴端有一夹具,夹具的前端安装有一磨具,一磨盘置于升降平台的一侧,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:用蜡将薄片粘贴在磨具的圆形平台上;步骤2:将磨具的把柄嵌在电机上的夹具中,夹紧;步骤3:摆放好磨盘,将带有磨具及薄片的电机装载在升降平台上;调节旋钮使薄片和磨盘间的距离适当;步骤4:启动电机,使磨具及薄片1运行起来,调节旋钮,使薄片缓慢接近磨盘;步骤5:重复步骤四,使薄片的边缘逐渐磨去,直到薄片的边缘和台面的边缘相齐;步骤6:加热熔化作粘合剂的蜡,从磨具上取下薄片,清洗除去薄片上残余的蜡。
搜索关键词: 半导体 薄片 材料 横向 研磨 方法
【主权项】:
1、一种半导体薄片材料的横向研磨方法,包括一用于研磨的研磨机,该研磨机包括:一升降平台,一电机,该电机置于升降平台上,电机的轴端有一夹具,夹具的前端安装有一磨具,一磨盘置于升降平台的一侧,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:用蜡将薄片粘贴在磨具的圆形平台上;步骤2:将磨具的把柄嵌在电机上的夹具中,夹紧;步骤3:摆放好磨盘,将带有磨具及薄片的电机装载在升降平台上;调节旋钮使薄片和磨盘间的距离适当;步骤4:启动电机,使磨具及薄片1运行起来,调节旋钮,使薄片缓慢接近磨盘;步骤5:重复步骤四,使薄片的边缘逐渐磨去,直到薄片的边缘和台面的边缘相齐;步骤6:加热溶化作粘合剂的蜡,从磨具上取下薄片,清洗除去薄片上残余的蜡。
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