[发明专利]激光晶体评估装置无效
| 申请号： | 200510006823.6 | 申请日： | 2005-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN1770572A | 公开（公告）日： | 2006-05-10 |
| 发明（设计）人： | 后藤义明;籾内正幸;江野泰造 | 申请（专利权）人： | 株式会社拓普康 |
| 主分类号： | H01S3/00 | 分类号： | H01S3/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘宗杰;叶恺东 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种激光晶体评估装置，具有产生激励光的光源、保持激光晶体的激光晶体保持台、接收从激光晶体射出的激光束的受光检测部、使上述光源和上述激光晶体在与该激光晶体的端面平行的方向相对进行移动的移动装置和取得来自该移动装置的相对移动量及来自上述受光检测部的受光结果的运算控制装置，利用上述移动装置使上述激励光入射的激光晶体的端面内的位置移动，上述运算控制装置根据激励光的入射位置和上述受光结果求出激光晶体端面内的输出分布。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 晶体 评估 装置 | ||
【主权项】：
1、一种激光晶体评估装置，其特征在于，具有：产生激励光的光源；保持激光晶体的激光晶体保持台；接收从激光晶体射出的激光束的受光检测部；使上述光源和上述激光晶体在与该激光晶体的端面平行的方向相对移动的移动装置，以及取得来自该移动装置的相对移动量和来自上述受光检测部的受光结果的运算控制装置，利用上述移动装置，使上述激励光入射的激光晶体的端面内的位置进行移动，上述运算控制装置根据激励光的入射位置和上述受光结果求出激光晶体端面内的输出分布。
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