[发明专利]一种薄膜晶体管的制造方法有效

专利信息
申请号: 200510007275.9 申请日: 2005-02-06
公开(公告)号: CN1632932A 公开(公告)日: 2005-06-29
发明(设计)人: 黄添钧 申请(专利权)人: 广辉电子股份有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 任默闻
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种薄膜晶体管的制造方法,此方法利用激光回火进行热处理,使上述岛状非晶硅图案转变成为一复晶硅岛状图案,并同时活性化上述离子掺杂区域的离子,再在上述复晶硅岛状图案上形成一钝化层,接着,选择性刻蚀上述钝化层,以形成一露出上述离子掺杂区域的开口。然后,形成一填入上述开口的金属层,以形成源极/漏极电极。最后,本发明形成源极/漏极电极之后才进行氢离子处理,以减少复晶硅之中的悬键。
搜索关键词: 一种 薄膜晶体管 制造 方法
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管的制造方法,其特征在于包括:在一基板上方形成一非晶硅层,该非晶硅层之中含有第一浓度的氢原子;进行第一次热处理,使该非晶硅层之中含有第二浓度的氢原子,该第二浓度小于该第一浓度;图案化该非晶硅层,以形成一岛状非晶硅图案;在该岛状非晶硅图案上覆盖一绝缘层;在该绝缘层上形成一栅极电极;以该栅极电极为光掩膜,且植入离子于该岛状非晶硅图案,以在该岛状非晶硅图案内形成离子掺杂区域;利用激光回火进行第二次热处理,使该岛状非晶硅图案转变成为一复晶硅岛状图案,并同时活性化该离子掺杂区域之离子;在所述复晶硅岛状图案上形成一钝化层;选择性刻蚀该钝化层,以形成一露出该离子掺杂区域的开口;以及形成一填入该开口的金属层,以形成源极/漏极电极。
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