[发明专利]一种薄膜晶体管的制造方法有效
申请号: | 200510007275.9 | 申请日: | 2005-02-06 |
公开(公告)号: | CN1632932A | 公开(公告)日: | 2005-06-29 |
发明(设计)人: | 黄添钧 | 申请(专利权)人: | 广辉电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种薄膜晶体管的制造方法,此方法利用激光回火进行热处理,使上述岛状非晶硅图案转变成为一复晶硅岛状图案,并同时活性化上述离子掺杂区域的离子,再在上述复晶硅岛状图案上形成一钝化层,接着,选择性刻蚀上述钝化层,以形成一露出上述离子掺杂区域的开口。然后,形成一填入上述开口的金属层,以形成源极/漏极电极。最后,本发明形成源极/漏极电极之后才进行氢离子处理,以减少复晶硅之中的悬键。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄膜晶体管 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管的制造方法,其特征在于包括:在一基板上方形成一非晶硅层,该非晶硅层之中含有第一浓度的氢原子;进行第一次热处理,使该非晶硅层之中含有第二浓度的氢原子,该第二浓度小于该第一浓度;图案化该非晶硅层,以形成一岛状非晶硅图案;在该岛状非晶硅图案上覆盖一绝缘层;在该绝缘层上形成一栅极电极;以该栅极电极为光掩膜,且植入离子于该岛状非晶硅图案,以在该岛状非晶硅图案内形成离子掺杂区域;利用激光回火进行第二次热处理,使该岛状非晶硅图案转变成为一复晶硅岛状图案,并同时活性化该离子掺杂区域之离子;在所述复晶硅岛状图案上形成一钝化层;选择性刻蚀该钝化层,以形成一露出该离子掺杂区域的开口;以及形成一填入该开口的金属层,以形成源极/漏极电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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