[发明专利]耦合故障通道的定位方法和多通道设备的检测方法无效
申请号: | 200510007331.9 | 申请日: | 2005-02-06 |
公开(公告)号: | CN1815983A | 公开(公告)日: | 2006-08-09 |
发明(设计)人: | 李红日 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 518129广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种耦合故障通道的定位方法和多通道设备的检测方法,首先当在一个故障区间内进行的通道串联测试结果为异常,而其细分出的所有子区间测试结果都为正常时,可以判断其中的一些子区间之间存在耦合故障。然后将其中一个子区间作为定位区间,其他子区间作为辅助区间,将所述定位区间分成两个子区间,分别将其中一个子区间和辅助区间进行通道串联测试,并将测试结果为异常的子区间再次作为定位区间,并分成两个更小的子区间再分别与辅助区间进行通道串联测试,直到找到子区间中所有与辅助区间进行通道串联测试的结果为异常的通道,按照该方法可以定位其他子区间中的故障通道。 | ||
搜索关键词: | 耦合 故障 通道 定位 方法 设备 检测 | ||
【主权项】:
1、一种多通道设备中耦合故障通道的定位方法,所述耦合故障通道至少包括两个串联测试结果为异常、单通道测试结果为正常的通道;其特征在于,所述定位方法包括下列步骤:a1:将包括耦合故障通道的耦合故障区间分为第一区间和第二区间,所述耦合故障区间中进行的通道串联测试结果为异常,所述第一区间和第二区间分别进行的通道串联测试结果都为正常;a2:将第一区间作为定位区间,将第二区间作为辅助区间,将所述定位区间分成两个子区间,分别将其中一个子区间和辅助区间进行通道串联测试,并将测试结果为异常的子区间再次作为定位区间,并分成两个更小的子区间再分别与辅助区间进行通道串联测试,直到找到第一区间中所有与辅助区间进行通道串联测试的结果为异常的通道;a3:将第二区间作为定位区间,将第一区间或第一区间中已经定位出的所有故障通道串联起来作为辅助区间,将所述定位区间分成两个子区间,分别将其中一个子区间和辅助区间进行通道串联测试,并将测试结果为异常的子区间再次作为定位区间,并分成两个更小的子区间再分别与辅助区间进行通道串联测试,直到找到第二区间中所有与辅助区间进行通道串联测试的结果为异常的通道。
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