[发明专利]一种用于测试MIPS处理器的设备有效
| 申请号： | 200510007633.6 | 申请日： | 2005-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN1818883A | 公开（公告）日： | 2006-08-16 |
| 发明（设计）人： | 张瑾;贺今朝;胡伟武 | 申请（专利权）人： | 中国科学院计算技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 高存秀 |
| 地址： | 100080北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于测试MIPS处理器的设备。本发明采用测试主板与处理器分离的方式，该设备包括处理器子卡和测试主板两部分，该测试主板和处理器子卡之间通过SLOT1插槽连接。处理器子卡封装有待测的MIPS处理器、处理器倍频跳线电路和上电逻辑时序电路。处理器子卡根据不同封装、不同管脚排布的MIPS处理器进行封装，封装的处理器子卡的输出信号的排布应与测试主板的SLOT1插槽的信号输入排布方式相一致；从而每一次MIPS处理器设计升级后，只需要重新封装相应的处理器子卡就可以测试，而不需要更新整个设备。本发明的设备可以针对不同封装类型的MIPS处理器进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 mips 处理器 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试MIPS处理器的设备，其特征在于，包括处理器子卡和测试主板两部分，该测试主板和处理器子卡之间通过SLOT1插槽连接。
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