[发明专利]使用模函数校验旋转、移位和符号扩展函数的方法和系统有效
| 申请号： | 200510008198.9 | 申请日： | 2005-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN1702624A | 公开（公告）日： | 2005-11-30 |
| 发明（设计）人： | 法迪·Y·布萨巴;劳伦斯·约瑟夫·鲍威尔;马丁·斯坦利·施莫科勒;迈克尔·托马斯·瓦登;戴维·阿兰·维伯 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李春晖 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及使用模函数校验旋转、移位和符号扩展函数的方法和系统。本发明所公开的发现电路中的缺陷的方法包括：通过对一个操作数执行选定函数来产生该选定函数的第一结果，其中，该选定函数使用一个掩码。在执行了该函数后，产生该掩码的反掩码，计算该反掩码的模数。计算该选定函数的所述第一结果的模函数，获得第三结果。计算所述操作数的模数，获得第四结果，然后对所述第二结果和第三结果执行第二函数，获得第五结果。响应第五结果与第四结果的比较结果，传出指示电路中的缺陷的信号。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 函数 校验 旋转 移位 符号 扩展 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种发现电路中的缺陷的方法，包括：通过对一个操作数执行选定函数来产生所述选定函数的第一结果，其中，所述选定函数使用一个掩码；产生所述掩码的反掩码；计算该反掩码的模函数，获得第二结果；计算该选定函数的所述第一结果的模函数，获得第三结果；计算所述操作数的模函数，获得第四结果；对所述第二结果和第三结果执行第二函数，获得第五结果；响应于第五结果与第四结果的比较结果，传出指示电路中的缺陷的信号。
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