[发明专利]使用了布里渊光纤传感器的物理量测量方法有效

专利信息
申请号: 200510008867.2 申请日: 2005-02-24
公开(公告)号: CN1661333A 公开(公告)日: 2005-08-31
发明(设计)人: 权日凡;尹东珍;李正州;金相勋 申请(专利权)人: 韩国科学技术院;韩国标准科学研究院
主分类号: G01D5/26 分类号: G01D5/26
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 余刚
地址: 韩国大*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供一种使用了布里渊光纤传感器的物理量测量方法,其可以使用两种脉冲光和由此取得的两种反向散射光,作为被进一步提高的空间分辨率来测量有关有关结构体的物理量及其分布。本发明涉及一种方法,即,将光纤设置在结构体上,将其脉冲宽度相互各异的各脉冲光设定为一对,并依次在光纤中行进,并在获得各反向散射光以及各布里渊增益谱后,从各布里渊增益谱的对比中算出标准谱,据此,获得布里渊频率。由此获得的布里渊频率乘以有关有关结构体的物理量换算系数,即可获得有关该物理量。根据本发明的方法,使可取得检测信号的光纤区间变短,其结果可以提高空间分辨率。
搜索关键词: 使用 布里渊 光纤 传感器 物理量 测量方法
【主权项】:
1.一种使用了布里渊光纤传感器的物理量测量方法,其特征在于:在使用了光纤的布里渊散射的物理量测量方法中,包括:步骤S1000,将光纤100作为检测装置设置在规定的结构体上;步骤S2000,选定脉冲宽度各异、且构成脉冲宽度对比对的第一脉冲光以及第二脉冲光;步骤S3000,使所述各脉冲光在所述光纤100中依次行进,从而获得各布里渊增益谱;步骤S4000,对比所述各布里渊增益谱,并获得标准谱;步骤S5000,从所述标准谱中决定位于最高点的布里渊频率;及步骤S6000,将需要测量的有关有关物理量的换算系数乘以所述布里渊频率,并算出/获得有关有关物理量。
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