[发明专利]在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置与方法有效
| 申请号： | 200510009525.2 | 申请日： | 2005-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN1652219A | 公开（公告）日： | 2005-08-10 |
| 发明（设计）人： | 蔡金印;赖义麟 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00;G11B20/18;G01N21/88 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 文琦;陈肖梅 |
| 地址： | 台湾省台北县*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭露一种在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置，包含一光侦测器，用以侦测反射写录激光的强度并产生一反射信号；一取样保持电路，用以取样与保持该反射信号，以得到该反射信号的稳态区域位准；以及一判断单元，用以判断该反射信号的稳态区域位准是否在一特定范围内，当该反射信号的稳态区域位准未在该特定范围内，即为侦测到瑕疵区块。本发明揭露的方法包含下列步骤：侦测反射写录雷射光的强度并产生一反射信号；取样与保持该反射信号，以得到该反射信号的稳态区域位准；以及判断该反射信号的稳态区域位准是否在一特定范围内，当该反射信号的稳态区域位准未在该特定范围内，即侦测到瑕疵区块，反之，即侦测到正常区块。 | ||
| 搜索关键词： | 写录时 侦测 盘片 瑕疵 区块 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置，其特征是，包含：一光侦测器，用以侦测反射写录激光的强度并产生一反射信号；一取样保持电路，用以取样与保持该反射信号，以得到该反射信号的稳态区域位准；以及一判断单元，用以判断该反射信号的稳态区域位准是否在一特定范围，其中当该反射信号的稳态区域位准未在该特定范围内，即为侦测到瑕疵区块。
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