[发明专利]利用单壁碳纳米管测量原子力显微镜针尖半径的方法

摘要

本发明公开一种测量原子力显微镜针尖半径的方法。利用单壁碳纳米管测量原子力显微镜针尖半径的方法通过以下步骤实现：：把直径为1～5nm的单壁碳纳米管沉淀在云母片表面上；用原子力显微镜测出单壁碳纳米管的测量宽度w和高度h，该原子力显微镜上用于测量单壁碳纳米管的针尖就是待测针尖；根据单壁碳纳米管的测量宽度w及高度h计算出待测针尖的半径。本发明利用单壁碳纳米管作为标准样品测量评估原子力显微镜的针尖半径，具有数学模型简单、直观，物理含义明确，测量评估精确、高效、实时等优点。可以测量1nm以上的针尖半径。另外重复测量与计算结果具有好的一致性。本发明具有方法简单、工作可靠的优点，具有较大的推广价值。

主权项

1、利用单壁碳纳米管测量原子力显微镜针尖半径的方法，其特征在于它通过以下步骤实现：：一、把直径为1～5nm的单壁碳纳米管沉淀在云母片表面上；二、用原子力显微镜测出单壁碳纳米管的测量宽度w和单壁碳纳米管的高度h，该原子力显微镜上用于测量单壁碳纳米管的针尖就是待测针尖，单壁碳纳米管的高度h就是单壁碳纳米管横截面上的直径2Rs；三、根据测量出来的单壁碳纳米管的测量宽度w及高度h计算出待测针尖的半径$R_T=\frac{W^2}{{16R}_S}.$