[发明专利]集成电路芯片瞬态电流测量方法及其系统

摘要

集成电路芯片瞬态电流测量方法及其系统属于集成电路测试领域，其特征在于，它含有：根据激励约束产生激励图形；激励图形分组及建立分组索引；瞬态电流波形的提取；对采集到的瞬态电流进行数据处理并形成数据文件；对数据文件按需进行实验分析等步骤。本发明基于普通集成电路测试设备和高速混合信号数字采样示波器等普通设备，扩展了普通集成电路测试设备的功能，同时，建立了一套从激励图形生成到测量、处理数据的完整流程，提高了工作效率。

主权项

1.集成电路芯片瞬态电流测量方法，其特征在于，它依次含有以下步骤：第1步：计算机根据用户提供的特定约束即激励约束产生相应的激励图形，所述激励图形是指集成电路工作时在各个时钟周期的激励向量组成的一个序列，所述激励向量是指集成电路所有输入引脚的用二进制表示的值组成的一组数，所述的特定约束是指用户输入的二进制表示的激励图形中特定激励向量特定位的取值；第2步：计算机为每个激励图形分配一个唯一的索引作为标识，同时根据上述约束把满足其一约束的所有图形分配到一组中，并为各组分配相应的分组索引；第3步：瞬态电流波形的采集，它包含以下步骤：第3.1步：计算机把激励图形以文本形式输入到集成电路自动测试设备中；第3.2步：上述集成电路自动测试设备根据输入的激励图形文件以循环工作的模式反复产生相应的激励信号来驱动被测集成电路芯片工作，但一个循环周期的长度要小于下述示波器的最大采集时间长度；第3.3步：被设置为“实时采集模式”的示波器采集串接在被测集成电路芯片的内核电源端与上述集成电路自动测试设备提供的芯片电源之间的电阻上的电压，再除以该电阻阻值以得到被测集成电路芯片瞬态电流波形，同时不仅要选择合适的波形予以保存，还要保存相应的触发信号的波形，所述的触发信号是被测试集成电路芯片的合适的输入信号或者是上述芯片自身产生的合适的输出信号；第4步：计算机对从上述示波器中采集到的瞬态电流波形和触发信号波形进行数据处理，它含有以下步骤：第4.1步：瞬态电流波形的提取第4.1.1步：计算机根据激励图形和触发信号波形产生一个波形信息文件即INF文件，它包括一系列激励图形索引，和各图形对应的触发信号变化的时刻与需要分析的上述波形的时间长度；第4.1.2步：计算机把产生的上述INF文件输入到一个命名为功耗波形分析器的软件工具包的数据预处理模块；第4.1.2步：所述数据预处理模块按照上述波形信息文件把需要分析的波形截取为若干独立的波形，并用根据激励图形索引扩展的索引对波形命名形成波形文件，然后再把对应同一激励图形索引的波形文件合并成一组；第4.2步：所述数据预处理模块计算各个激励图形对应的波形分组的平均波形，以此作为每个激励图形对应的瞬态电流曲线，并以激励图形索引命名；第4.2步：根据步骤2中产生的激励图形分组文件建立相应的波形分组文件，分组后的波形以CSV格式输出，称为数据文件用DTF表示；第5步：根据需要对上述数据文件作实验分析。