[发明专利]一种漏磁检测腐蚀缺陷的量化方法

摘要

一种漏磁检测腐蚀缺陷的量化方法，属于无损检测技术领域。本发明利用检测到的漏磁场分布特征，根据特定的算法实现腐蚀缺陷尺寸的量化。具体实施方法是首先制作带有三个系列标准缺陷的试样，根据试样漏磁检测数据，确定腐蚀缺陷长度、宽度和深度量化公式中的系数，从而得到这种试样类型被测件的腐蚀缺陷量化方法，为评价设备使用状态和设备维护提供依据。本发明有效克服了现有技术中对腐蚀缺陷，特别是对缺陷深度难于量化的缺点，方法简单易行，手工和计算机均可实现，效率高，具有较广阔的应用前景。

主权项

1.一种漏磁检测腐蚀缺陷的量化方法，其特征在于该方法包括如下步骤：1)取与待检测部件相同材质、相同厚度的试样，试样厚度用符号t表示；在其上加工长度分别为1t、2t、3t、4t、5t、6t、7t、8t、9t和10t，宽度为3t，深度为20％t；长度为3t，宽度分别为1t、2t、3t、4t、5t、6t、7t、8t、9t和10t、深度为20％t；长度和宽度均为3t，深度分别为10％t、20％t、30％t、40％t、50％t、60％t、70％t、80％t和90％t的三个系列人工腐蚀标准缺陷，缺陷边界圆弧过渡，缺陷之间间隔至少为20t；2)将试样水平放置，用直流磁化场饱和磁化，然后在提离值为0.5～5mm的检测平面内等间距采样，得到检测平面内标准缺陷水平方向的离散二维漏磁场数据；所述的提离值是指检测探头距被检测试样表面的距离；3)将步骤2)得到的离散二维漏磁场数据取平均值，再用该平均值的1.2倍作为阈值过滤步骤2)得到的离散二维漏磁场数据，得到各标准缺陷的离散二维漏磁场数据范围；4)分别计算步骤3)得到的标准缺陷离散二维漏磁场的长度、宽度和峰值；标准缺陷离散漏磁场长度Lm等于标准缺陷离散二维漏磁场长度方向的采样点数乘以采样间距d；缺陷漏磁场宽度Wm等于缺陷离散二维漏磁场宽度方向的采样点数乘以采样间距d；缺陷漏磁场峰值Mx为缺陷离散二维漏磁场最大值；5)将步骤4)得到的缺陷宽度为3t、深度为20％t、长度分别为1t、2t、3t、4t、5t、6t、7t、8t、9t和10t的标准缺陷漏磁场长度Lm与其相应的缺陷长度L按线性公式拟合，确定缺陷长度计算公式L＝a×Lm+b中的系数a和b，得到缺陷长度量化公式；将步骤4)得到的缺陷长度为3t、深度为20％t、宽度分别为1t、2t、3t、4t、5t、6t、7t、8t、9t和10t的标准缺陷漏磁场宽度Wm与其相应的缺陷宽度W按线性公式拟合，确定缺陷宽度量化公式W＝e×Wm+f中的系数e和f，得到缺陷宽度量化公式；将步骤4)得到的缺陷长度和宽度都为3t、深度分别为10％t、20％t、30％t、40％t、50％t、60％t、70％t、80％t和90％t的标准缺陷漏磁场峰值Mx与其相应的缺陷深度D按二次公式拟合，确定缺陷深度量化公式Mx＝g×D2+h×D+j中的系数g、h和j，得到缺陷深度量化公式；6)将被检测部件用直流磁化场饱和磁化，以步骤2)中的提离值和采样间距获得被测部件的离散漏磁场数据，按步骤3)得到被测件各缺陷的离散二维漏磁场数据，按步骤4)得到被测件各缺陷漏磁场的长度、宽度和峰值，按步骤5)的缺陷长度量化公式、缺陷宽度量化公式和缺陷深度量化公式，即计算得到被检测部件未知腐蚀缺陷的尺寸。