[发明专利]同步辐射压弯准直镜姿态的检测方法无效
| 申请号： | 200510011216.9 | 申请日： | 2005-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN1808209A | 公开（公告）日： | 2006-07-26 |
| 发明（设计）人： | 郑欣;朱佩平;王寯越;国秀珍;冯晓冬;孙立娟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G02B27/00 | 分类号： | G02B27/00;G01B9/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 周国城 |
| 地址： | 100039北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明同步辐射压弯准直镜姿态的检测方法，是利用透镜和针孔产生一与同步辐射发散度相同的激光束，通过测量经压弯准直镜输出激光束的平行度，可将准直镜的位置、俯仰角度和镜面曲率皆调整到最佳。本发明的剪切干涉仪结构简单，可根据条纹图样判断光束的平行度，每一幅干涉条纹图样与准直镜的一种姿态对应，因而这种方法能确定准直镜表面各点反射X射线的整体效果。根据准直镜曲率半径大和输出光束口径小的特点，运用傅里叶光学中的空间频率合成原理，利用微小楔角剪切干涉条纹，对竖直口径为5mm光束，可以连续监测准直镜压弯的全过程。本发明提出的方法适用于测量波前曲率半径大竖直口径小的光束，不但精度高，而且具有实用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 同步 辐射 压弯准直镜 姿态 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种同步辐射压弯准直镜姿态的检测方法，使用双棱镜剪切干涉仪进行，其特征在于：是利用透镜和针孔产生一与同步辐射发散度相同的激光束，通过测量经压弯准直镜输出激光束的平行度，可将准直镜的位置、俯仰角度和镜面曲率皆调整到最佳状态。
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