[发明专利]一种基于相似性度量的天体光谱自动分类与红移测量方法有效
| 申请号： | 200510011786.8 | 申请日： | 2005-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN1869613A | 公开（公告）日： | 2006-11-29 |
| 发明（设计）人： | 段福庆;吴福朝;赵永恒 | 申请（专利权）人： | 中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/12 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 段成云 |
| 地址： | 100080北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及天体光谱处理技术领域。一种基于相似性度量的天体光谱自动分类与红移测量方法。将天体光谱分为恒星、星系和类星体三种，并对星系和类星体进行红移测量。方法包括三大步骤：首先对光谱进行预处理；然后进行谱线提取；最后，利用提取出的谱线信息确定红移候选，并通过目标光谱和模板光谱间的相似性度量来交叉验证红移候选以确定红移值和天体类型。本发明能同时实现光谱的分类和红移测量，避免了传统的先分类再进行测量或者先测量再分类造成的错误累积。本发明的分类正确率对恒星、星系和类星体分别能达到92％、97.9％和98.8％；红移测量正确率对星系和类星体分别能达到97.8％和94％。本发明可用于海量天体光谱的自动分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 相似性 度量 天体 光谱 自动 分类 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于相似性度量的天体光谱的自动分类与红移测量方法，包括三大步骤：第一步S1，对光谱进行预处理；第二步S2，进行谱线提取；第三步S3，进行光谱分类和红移测量。
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