[发明专利]在频域中测量发光寿命的方法无效
| 申请号： | 200510011869.7 | 申请日： | 2005-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN1693880A | 公开（公告）日： | 2005-11-09 |
| 发明（设计）人： | 徐征;张福俊;徐叙瑢 | 申请（专利权）人： | 北京交通大学 |
| 主分类号： | G01N21/68 | 分类号： | G01N21/68 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100044北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种在频域中测量发光寿命的方法，适用于评估：平板发光显示所用发光屏幕的性质以排除发光寿命过长引起的图像拖尾；光源无闪烁发光的条件；发光效率受到的影响。该测量发光寿命的方法的步骤：①用频率能够调节的正弦交流电激发样品；②频率变化的范围：20Hz－200000Hz；③在相同电压不同频率下测量器件的发光光谱；④根据器件在不同频率下的发光亮度的相对数值，绘制发光亮度与激发频率的关系图，找出亮度达到稳态值时的频率fm；⑤1/2fm即发光中心的寿命τ。该方法简单易行，测量成本低。这个方法既适用于测量无机材料的寿命，又适用于测量有机材料的寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 域中 测量 发光 寿命 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在频域中测量发光寿命的方法，其特征在于该测量发光寿命的步骤如下：①用频率能够调节的正弦交流电激发样品；②正弦交流电的频率变化范围：20Hz-200000Hz；③在相同电压、不同频率下，测量样品的发光光谱；④根据样品在不同频率时的发光强度的相对数值，绘制发光强度与激发频率的关系图，找出发光强度达到稳态值时的频率fm；⑤fm即发光中心的寿命τ。
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