[发明专利]一种滚转角测量方法与装置无效

专利信息
申请号: 200510011877.1 申请日: 2005-06-07
公开(公告)号: CN1687701A 公开(公告)日: 2005-10-26
发明(设计)人: 匡萃方;冯其波;张斌;陈士谦 申请(专利权)人: 北京交通大学
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01D5/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100044北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种滚转角测量方法与装置,属于光电检测技术领域。本发明利用半导体激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)后,在光轴上依次放置一个四分之一波片(7)及反射镜(8)。通过反射镜使光线两次透过四分之一波片,再经过一个渥拉斯顿棱镜(5)透射到多象限探测器(6)上产生电压差值,通过检测该差值得到滚转角的值。与现有技术相比,测量灵敏度得到提高,光路结构简单,使移动部分不带电缆,方便现场测量,在保证测量精度的前提下,有效降低了成本。
搜索关键词: 一种 转角 测量方法 装置
【主权项】:
1.一种滚转角测量方法,包括以下步骤:1)由半导体激光器(1)发出的激光经过单模光纤(2)准直,准直透镜(3)扩束,再经过偏振片(4)变成线偏振光;2)该线偏振光透过四分之一波片(7);3)经过反射镜(8)使光线逆向返回,再次透过四分之一波片(7);4)该光线经过渥拉斯顿棱镜(5)分束成两束光;5)用一个探测器(6)探测两分束光,光强转化为电信号,该电信号经过信号处理电路(9)放大运算后送入计算机(10),其输出电压的正负反映滚转角方向,电压绝对值大小反映滚转角的值。
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