[发明专利]用于高温超导磁体测试的补偿线圈装置无效

专利信息
申请号: 200510011950.5 申请日: 2005-06-17
公开(公告)号: CN1880962A 公开(公告)日: 2006-12-20
发明(设计)人: 张京业;王子凯;张东;林良真;肖立业 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00;G01R31/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人: 关玲
地址: 100080北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种高温超导磁体测试用的补偿线圈装置,由外线圈[1]、内线圈[2]及附属器件构成。外线圈[1]为主线圈,匝数少电感L1小,通流能力比所测的高温超导磁体[14]的临界电流大些;内线圈[2]为副线圈,匝数多电感L2大;副线圈[2]通过下固定杆[7]和上固定杆[8]定位在主线圈[1]的中心孔内,并通过限位轴承[9和10]将上固定杆[8]、下固定杆[7]限位在主线圈[1]、副线圈[2]中平面的交线上;上固定杆[8]、下固定杆[7]与副线圈[2]为一体,转动上固定杆[8]上的调节把手可带动副线圈[2]在±180°的范围内连续转动。副线圈[2]中间可以引出多个抽头。本发明适用于高温超导磁体和带材的临界电流、交流损耗等性能的测试,亦适用于低温超导磁体和线材的临界电流、交流损耗等性能的测试。
搜索关键词: 用于 高温 超导 磁体 测试 补偿 线圈 装置
【主权项】:
1、一种用于高温超导磁体测试的补偿线圈装置,其特征在于主要由外线圈[1]、内线圈[2]、及附属器件:外线圈接线柱[3和4],内线圈接线柱[5和6],下固定杆[7],上固定杆[8],轴承[9和10],刻度盘[11],指针[12],支架[13]构成;外线圈[1]为主线圈,用较粗导线绕制,匝数少电感L1小,通流能力比所测的高温超导磁体[14]的临界电流大;内线圈[2]为副线圈,绕制导线为0.05~1mm的铜漆包线,匝数多电感L2大;副线圈[2]通过下固定杆[7]和上固定杆[8]定位在主线圈[1]的中心孔内,并通过限位轴承[9]、[10]将上固定杆[8]、下固定杆[7]限位在主线圈[1]、副线圈[2]中平面的交线上;上固定杆[8]、下固定杆[7]与副线圈[2]为一体,转动上固定杆[8]上的调节把手可带动副线圈[2]在±180°的范围内连续转动;外线圈[1]上安装有一个与上固定杆[8]同心的刻度盘[11],并在上固定杆[8]上固定一个定位指针[12]。
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