[发明专利]用计算机对牙邻面龋损X线图像的处理方法无效

专利信息
申请号: 200510012014.6 申请日: 2005-06-27
公开(公告)号: CN1723855A 公开(公告)日: 2006-01-25
发明(设计)人: 李涢;叶卫平;李玉晶 申请(专利权)人: 首都医科大学附属北京口腔医院
主分类号: A61B6/14 分类号: A61B6/14;G06F17/00
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 代理人: 闫立德
地址: 100010*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种用计算机对牙邻面龋损X线图像的处理方法,该方法包括提取待处理牙齿的X线图像,将获得的待处理牙齿的X线图像输入计算机中,标出输入图像中含有龋损牙齿的边缘,找出并在原始图像中标出包括牙宽,龋坏数目,龋坏位置,龋坏宽度,龋坏深度,龋坏密度等点数据,本发明的方法简便易行,且经过该方法处理的X线原始图像能够准确标出牙齿龋损部位,龋损密度、范围和深度,大幅度提高了确诊率。
搜索关键词: 用计 牙邻面龋损 线图 处理 方法
【主权项】:
1、一种用计算机对牙邻面龋损X线图像的处理方法,其特征在于它包括如下步骤:(1)提取待处理牙齿的X线图像,将获得的待处理牙齿的X线图像输入计算机中;(2)标出输入图像中含有龋损牙齿的边缘;(3)沿标出的图像中左右两侧牙齿边缘向内作图像灰度变化分析,获得图像中牙齿的平滑等灰度曲线,平滑等灰度曲线的计算公式为:(4)用获取图像中牙齿的平滑等灰度曲线,与病理牙齿切片显微X线检查已得到的牙齿龋损数据进行比对,在获得图像中牙齿的平滑等灰度曲线上龋损部位表现为沿牙边缘一定厚度范围内的局部凹区域,依据比对结果,确定凹区域的最小凹陷程度和范围,找到所有凹区域并进行标注,以二阶导数大于零作为凹区域的判据,二阶导数计算公式为:Δ=f(y-5)-2×f(y)+f(y+5),计算每一个凹区域特征参数、宽度、深度、曲率和分散度,将其与牙齿切片显微X线检查得到的龋坏部位的相应参数进行比对,分散度<0.2同时满足下述条件之一为龋坏部位凹区域:(a)宽度>牙宽9~11%,且深度>牙宽4~6%;(b)牙宽1~3%<宽度<牙宽9~11%,深度>牙宽7~9%,且区域内二阶导数最大值>2;龋坏深度、宽度和釉牙本质线的确定:龋坏深度的确定是对确认的龋坏部位凹区域进行扫描,找出该凹区域内所有平滑等灰度线中距边缘最远的凹点,此点到边缘的距离确定为龋坏深度;龋坏宽度的确定是找出该凹区域内所有平滑等灰度线中最高的凹点和最低的凹点,此二点间的竖直距离确认为龋坏宽度;确定釉牙本质线的确切位置是先提取左侧釉牙本质线,计算牙体左半部梯度值分布范围,取出梯度大于此范围中值的点,这些点大多数都属于釉牙本质线上的点,去除分散点,对剩下的属于釉牙本质线的点进行一定的平滑就得到了左侧釉牙本质线,梯度计算公式如下:(x,y)=I(x-3,y)-I(x+3,y)对牙体右半部重复左侧相同的操作,得到右侧釉牙本质线;(5)计算机根据以上数据,在原始图像中用点标出牙齿龋坏区域,并打出结果数据的报告,所述的数据包括牙宽,龋坏数目,龋坏位置,龋坏宽度,龋坏深度,龋坏密度。
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