[发明专利]α反冲径迹测定年代方法无效

专利信息
申请号: 200510012050.2 申请日: 2005-06-30
公开(公告)号: CN1888859A 公开(公告)日: 2007-01-03
发明(设计)人: 袁万明;董金泉;保增宽;高绍凯;王世成 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01N13/10 分类号: G01N13/10;G01N23/22;G01N1/28
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 段成云
地址: 100039北*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及第四纪地质、地理、灾害、考古等方面的年代学研究的测定技术领域,特别是一种α反冲径迹测定年代方法。方法包括:①样品采集:②观测样品制备:③蚀刻观测样品:④观测样品设备:⑤统计α反冲径迹数:⑥测量垂直蚀刻速度:⑦测定α反冲径迹体密度:⑧测定云母样品的铀钍含量:⑨计算云母α反冲径迹的年龄。
搜索关键词: 反冲 径迹 测定 年代 方法
【主权项】:
1、一种α反冲径迹测定年代方法,其步骤如下:①样品采集:②观测样品制备:用耐氢氟酸腐蚀的材料作为载物片,用耐氢氟酸腐蚀并能够粘接上述材料和岩石矿物的胶,把云母样品固定到载物片上,用于蚀刻和观测;③蚀刻观测样品:把观测样品放入恒温槽中,用氢氟酸进行蚀刻,HF酸浓度越高、温度越高,所需蚀刻时间就越短,根据样品情况,确定最佳的蚀刻条件;④观测样品设备:观测云母样品中α反冲径迹,可以用带有干涉相差设备或Nomarski微分干涉反差装置的显微镜,或者是一台扫描力显微镜;⑤统计α反冲径迹数:用显微镜观测的α反冲径迹的形状为圆形凹坑,扫描力显微镜观测到的α反冲径迹的形状为三角形凹坑,对这些径迹数目进行准确的计数;⑥测量垂直蚀刻速度:在一定条件下蚀刻云母样品一定时间,利用光学显微镜和轮廓仪测量云母样品蚀刻前后的高度变化,进而得出垂直蚀刻速度;⑦测定α反冲径迹体密度:可以有两种方法:⑧测定云母样品的铀钍含量:可以有两种方法:⑨计算云母α反冲径迹的年龄:全部α反冲径迹径体密度ρv由这些核素产生: ρ v = 238 U a e 238 λ · t { ( 1 - e - 238 λ · t ) + I · ( 1 - e - 235 λ · t ) + 238 λ 234 λ · ( 1 - e - 234 λ · t ) + D · 238 λ 230 λ · ( 1 - e - 230 λ · t ) + [ Th U ] s · ( 1 - e 232 λ · t ) } · η tot 其中238λ...230λ是各自的衰变常数;I=0.0072为235U与238U同位素丰度比率;ηtot≈1是对α反冲径迹的总效率系数;D=[Th/U]s/[Th/U]m为云母s和岩浆m之间的分配系数;238Ua(原子数/mm3)是矿物中238U的原子频数用此关系计算:238Ua=238UgnsNA/MU 其中Ug是铀的质量浓度(g/g);NA是阿伏加德罗常数;ns是矿物密度(g/mm3);MU代表铀的摩尔质量(g/mol);年龄t的计算可以用迭代或画图来解。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所,未经中国科学院高能物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510012050.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top