[发明专利]α反冲径迹测定年代方法无效
申请号: | 200510012050.2 | 申请日: | 2005-06-30 |
公开(公告)号: | CN1888859A | 公开(公告)日: | 2007-01-03 |
发明(设计)人: | 袁万明;董金泉;保增宽;高绍凯;王世成 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G01N13/10 | 分类号: | G01N13/10;G01N23/22;G01N1/28 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 段成云 |
地址: | 100039北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及第四纪地质、地理、灾害、考古等方面的年代学研究的测定技术领域,特别是一种α反冲径迹测定年代方法。方法包括:①样品采集:②观测样品制备:③蚀刻观测样品:④观测样品设备:⑤统计α反冲径迹数:⑥测量垂直蚀刻速度:⑦测定α反冲径迹体密度:⑧测定云母样品的铀钍含量:⑨计算云母α反冲径迹的年龄。 | ||
搜索关键词: | 反冲 径迹 测定 年代 方法 | ||
【主权项】:
1、一种α反冲径迹测定年代方法,其步骤如下:①样品采集:②观测样品制备:用耐氢氟酸腐蚀的材料作为载物片,用耐氢氟酸腐蚀并能够粘接上述材料和岩石矿物的胶,把云母样品固定到载物片上,用于蚀刻和观测;③蚀刻观测样品:把观测样品放入恒温槽中,用氢氟酸进行蚀刻,HF酸浓度越高、温度越高,所需蚀刻时间就越短,根据样品情况,确定最佳的蚀刻条件;④观测样品设备:观测云母样品中α反冲径迹,可以用带有干涉相差设备或Nomarski微分干涉反差装置的显微镜,或者是一台扫描力显微镜;⑤统计α反冲径迹数:用显微镜观测的α反冲径迹的形状为圆形凹坑,扫描力显微镜观测到的α反冲径迹的形状为三角形凹坑,对这些径迹数目进行准确的计数;⑥测量垂直蚀刻速度:在一定条件下蚀刻云母样品一定时间,利用光学显微镜和轮廓仪测量云母样品蚀刻前后的高度变化,进而得出垂直蚀刻速度;⑦测定α反冲径迹体密度:可以有两种方法:⑧测定云母样品的铀钍含量:可以有两种方法:⑨计算云母α反冲径迹的年龄:全部α反冲径迹径体密度ρv由这些核素产生: 其中238λ...230λ是各自的衰变常数;I=0.0072为235U与238U同位素丰度比率;ηtot≈1是对α反冲径迹的总效率系数;D=[Th/U]s/[Th/U]m为云母s和岩浆m之间的分配系数;238Ua(原子数/mm3)是矿物中238U的原子频数用此关系计算:238Ua=238UgnsNA/MU 其中Ug是铀的质量浓度(g/g);NA是阿伏加德罗常数;ns是矿物密度(g/mm3);MU代表铀的摩尔质量(g/mol);年龄t的计算可以用迭代或画图来解。
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