[发明专利]α反冲径迹精准定位观测方法无效

专利信息
申请号: 200510012051.7 申请日: 2005-06-30
公开(公告)号: CN1888872A 公开(公告)日: 2007-01-03
发明(设计)人: 董金泉;袁万明;高绍凯;保增宽;王世成 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N13/10;G01N23/22;G01N1/28
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 段成云
地址: 100039北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及第四纪地质、地理、灾害、考古等方面的年代学研究的测定技术领域,特别是一种α反冲径迹精准定位观测方法。方法包括两种方式:采用固定法和活动法。固定法包括:(1)固定样品:(2)首次蚀刻样品:(3)首次清洗样品:(4)首次确定观测区:(5)首次统计α反冲径迹数:(6)再次蚀刻样品:(7)再次清洗样品:(8)精准定位观测区:(9)再次统计α反冲径迹数:(10)汇总实验数据。活动法包括:(1)选取样品准备载物片:(2)首次蚀刻样品:(3)首次清洗样品:(4)首次确定观测区:(5)首次统计α反冲径迹数:(6)再次蚀刻样品:(7)再次清洗样品:(8)精准定位观测区:(9)再次统计α反冲径迹数:(10)汇总实验数据。
搜索关键词: 反冲 径迹 精准 定位 观测 方法
【主权项】:
1.一种α反冲径迹精准定位观测方法,采用固定法:其步骤如下:(1)固定样品:样品固定在载物片上;(2)首次蚀刻样品:把样品和载物片一起放入氢氟酸HF蚀刻,蚀刻条件根据情况而定;(3)首次清洗样品:用各种洗涤剂和纯净水,清洗样品观测表面;(4)首次确定观测区:用AUTOSCAN自动测量系统对样品的观测区域进行首次定位,并摄取观测区域的图像;(5)首次统计α反冲径迹数:在观测区域的图像上进行α反冲径迹数的统计;(6)再次蚀刻样品:把样品和载物片一起放入氢氟酸HF蚀刻,蚀刻条件根据情况而定;(7)再次清洗样品:用各种洗涤剂和纯净水,清洗样品观测表面;(8)精准定位观测区:先用AUTOSCAN自动测量系统对样品的观测区域进行初步定位并在显示器上显示当前的观测区域,然后在显示器上打开上次观测区域的图像,对比当前的观测区域和上次观测区域的图像,手动缓慢移动显微镜的载物台,使当前的观测区域和上次观测区域的图像完全重合,并摄取当前观测区域的图像;(9)再次统计α反冲径迹数:在上步摄取的观测区域图像上进行α反冲径迹数的统计;(10)汇总实验数据:根据样品的蚀刻情况和实验数据的多少决定:如果需要再次蚀刻,那么重复(6)(7)(8)(9)步骤,如果不再需要蚀刻,那么汇总全部实验数据。
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