[发明专利]硅薄膜太阳电池用P型窗口层及其制备方法有效

专利信息
申请号: 200510013862.9 申请日: 2005-06-20
公开(公告)号: CN1697201A 公开(公告)日: 2005-11-16
发明(设计)人: 赵颖;张晓丹;耿新华;魏长春;薛俊明;侯国付;仁慧志;张德坤;孙建;张建军;熊绍珍 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: H01L31/04 分类号: H01L31/04;H01L31/18
代理公司: 天津市学苑有限责任专利代理事务所 代理人: 解松凡
地址: 3000*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及硅薄膜太阳电池的窗口层,特别是p型窗口层的结构和制备技术,属于新能源中薄膜太阳电池的技术领域。硅薄膜太阳电池用p型窗口层,由透明衬底、透明导电薄膜、p型窗口层等组成,其特点在于:P层分为P1和P2两层,P1层是具有高晶化率宽带隙纳米硅的薄膜,厚度比P2层要薄一个数量级。在设计p型窗口层时,采用双层p型掺杂层结构。调控两层的晶化率、掺杂浓度与厚度,来达到晶化和掺杂效果分别完成、最终合成一致达到高电导、高晶化率同时得以满足的效果,为随后微晶硅有源层的生长提供良好晶化基础,并以高电导的p型掺杂提供高开路电压和低的串联电阻,从而在保证稳定性基础上提高电池效率,有利展示薄膜电池低成本的优势。
搜索关键词: 薄膜 太阳电池 窗口 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种硅薄膜太阳电池用p型窗口层,由透明衬底(G)、透明导电薄膜(T)、p型窗口层(P)、本征有源区(I)、N+区(N)、背电极(M)组成,其特征在于:P层分为P1 和P2两层,P1层是具有高晶化率宽带隙纳米硅的薄膜,厚度比P2层要薄一个数量级;P2 层是厚度为10nm-40nm的高电导率的宽带隙p型微晶硅材料。
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