[发明专利]流式成像颗粒测量装置及其测量方法无效
申请号: | 200510016233.1 | 申请日: | 2005-02-25 |
公开(公告)号: | CN1651898A | 公开(公告)日: | 2005-08-10 |
发明(设计)人: | 朱险峰 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;G01N15/00;G01N21/51 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 | 代理人: | 江镇华 |
地址: | 300072天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明分开了一种流式成像颗粒测量装置和测量方法。测量装置包括由光源、第一透镜、光阑、半透半反镜、挡光板、第二透镜、反光镜、第三透镜组成光路系统,鞘流喷嘴,由光敏器、放大器、触发信号发生器、CCD摄像机、视频接口和计算机组成电路系统。测量方法包括稀释被测样本,将稀释后的样本经鞘流喷嘴喷射过光敏区,光敏器拾取被测样本内颗粒产生的散射光,经放大器放大后输至触发信号发生器,触发CCD摄像机对光敏区拍摄,计算机内的公知软件系统对图像进行处理识别等步骤。本发明测量装置和测量方法,在有颗粒进入光敏区时,产生触发信号,CCD摄像机才对单个颗粒或细胞分别成像并通过形态辨识细胞,能够避免同一个颗粒或细胞可能会在两张或多张照片上成像的现象。 | ||
搜索关键词: | 成像 颗粒 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】:
1、一种流式成像颗粒测量装置,包括光路系统、鞘流喷嘴和电路系统,其特征是,所述的光路系统依次设置有光源、第一透镜、光阑、半透半反镜,半透半反镜的透射光路上依次设置有挡光板、第二透镜,半透半反镜的反射光路上依次设置有反光镜、第三透镜;所述的鞘流喷嘴用于将稀释后的被测样本喷射过光路系统内所述光阑与半透半反镜之间的光路;光源发出的单色光经第一透镜聚焦和光阑照亮被测样本液流形成光敏区;所述的电路系统由光敏器、放大器、触发信号发生器、CCD摄像机、视频接口和计算机组成;当被测样本内有颗粒进入光敏区时,颗粒产生散射光,散射光经第二透镜外沿聚焦到光敏器,光敏器拾取散射光信号,经放大器放大后输至触发信号发生器,产生触发信号,触发CCD摄像机对光敏区拍摄,图像数据经视频接口传到计算机;当被测样本内没有颗粒进入光敏区时,光敏区的光被挡光板全部遮挡,不能通过第二透镜,光敏器检测不到散射光,触发信号发生器不产生触发信号,CCD摄像机处于不工作状态。
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