[发明专利]多反应器分析芯片检测方法和分析芯片及检测装置有效
| 申请号： | 200510020350.5 | 申请日： | 2005-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN1648671A | 公开（公告）日： | 2005-08-03 |
| 发明（设计）人： | 邹方霖;陈春生;王建霞 | 申请（专利权）人： | 成都夸常医学工业有限公司 |
| 主分类号： | G01N35/02 | 分类号： | G01N35/02;G01N35/00;G01N33/00 |
| 代理公司： | 成都天元专利事务所 | 代理人： | 张新 |
| 地址： | 610041四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及多反应器分析芯片检测方法；同时还涉及能使本发明的检测方法得以实现的多反应器分析芯片；含反应器洗涤系统、或/和残存样品处理系统、或/和加样系统的检测装置。本发明还涉及用以制作本发明一种多反应器分析芯片的多池片基和含有本发明多反应器分析芯片的试剂盒。通过使用本发明的检测方法、或/和多反应器分析芯片、或/和检测装置，可以进行操作方便的高集成度、高效率且安全的多反应器分析芯片检测。 | ||
| 搜索关键词： | 反应器 分析 芯片 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种多反应器分析芯片检测方法，其特征在于：该检测方法至少包括以下步骤中的一种或者任意几种步骤过程的任意组合：a)含点样式加样的加样过程；b)含降流动处理的残存样品处理过程；c)含单向清洗的含残存样品的反应器清洗过程。
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