[发明专利]采用中频反应磁控溅射铟锡合金靶制备ITO膜的方法及系统有效

专利信息
申请号: 200510021276.9 申请日: 2005-07-15
公开(公告)号: CN1718848A 公开(公告)日: 2006-01-11
发明(设计)人: 许生;许沭华;谭晓华;段永利;梁红;戚祖强;徐升东 申请(专利权)人: 深圳市豪威光电子设备有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35
代理公司: 深圳创友专利商标代理有限公司 代理人: 彭家恩
地址: 518054广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种采用中频反应磁控溅射铟锡合金靶制备ITO膜的方法,包括如下步骤:1)在真空室内设置铟锡合金靶和待镀膜的基片;2)将铟锡合金靶接通中频电源;3)向真空室中通入预置的工作气体和反应气体,在铟锡合金靶与待镀膜的基片之间形成等离子体区,使铟锡粒子从铟锡合金靶中溅射出来;5)检测所述等离子体区金属铟的451nm特定谱线强度;6)将步骤5)检测到的特定谱线强度经过滤波、增强和放大后与预置的工作气体进行比较,根据差值调整反应气体流量,使等离子体区内的铟锡粒子发生氧化反应并形成过渡态后沉积在待渡膜的基片上。本发明还公开了实现上述方法的镀膜系统。采用本发明,既能保证足够高的沉积速率,又能根据需要调节膜层成分的,是一种通过中频反应磁控溅射制备低方阻、高透射率的ITO膜的技术。
搜索关键词: 采用 中频 反应 磁控溅射 合金 制备 ito 方法 系统
【主权项】:
1、一种采用中频反应磁控溅射铟锡合金靶制备ITO膜的方法,包括如下步骤:1)在真空室内设置铟锡合金靶;2)将铟锡合金靶接通中频电源;3)向真空室中通入预置的工作气体和反应气体,在铟锡合金靶与待镀膜的基片之间形成等离子体区,使铟锡粒子从铟锡合金靶中溅射出来;4)检测所述等离子体发射光谱中与反应气体分压有关的金属铟的451nm特定谱线强度;5)将步骤4)检测到的金属铟的451nm特定谱线强度经过滤波、增强和放大后与预置的工作点进行比较,根据差值调整反应气体流量,形成反应气体流量的负反馈控制,使等离子体区内的铟锡粒子发生氧化反应并形成过渡态后沉积在待渡膜的基片上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市豪威光电子设备有限公司,未经深圳市豪威光电子设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510021276.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top