[发明专利]一种实现对I2C器件特性参数进行调试的方法及装置

摘要

本发明公开一种实现对I²C器件特性参数进行调试的方法，该方法包括以下步骤，(1)从计算机并口分别引出时钟线SCL、数据线SDA与地线GND，作为模拟的I²C总线，与I²C器件的I²C接口对应相连；(2)运行预写入计算机存储单元的调试程序，通过上述模拟的I²C总线调节I²C器件的特性参数；(3)把所述I²C器件的特性参数达到最佳时的计算机中调试程序的参数导出，并写入所述I²C器件的微处理器MCU。本发明还公开了实现上述方法的装置。采用本发明的方法以及装置来对I²C器件进行调试，省去了多次拆卸机器及插拨I²C器件的过程，将工作的重点放到调试工作上来，大大加快了工作与生产效率。

主权项

1、一种实现对I2C器件特性参数进行调试的方法，其特征在于：包括以下步骤，(1)从计算机并口分别引出三根线：时钟线SCL、数据线SDA与地线GND，作为模拟的I2C总线，与I2C器件的I2C接口对应相连；(2)运行预写入计算机存储单元的调试程序，通过上述模拟的I2C总线调节I2C器件的特性参数；(3)把所述I2C器件的特性参数达到最佳时的计算机中调试程序的参数导出，并把这些参数写入所述I2C器件的微处理器MCU中。