[发明专利]一种圆柱形高Q谐振腔及微波电介质复介电常数测试装置无效

专利信息
申请号: 200510022223.9 申请日: 2005-12-06
公开(公告)号: CN1790040A 公开(公告)日: 2006-06-21
发明(设计)人: 李恩;郭高凤;张其劭 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12;G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610054四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种圆柱形高Q谐振腔及微波电介质复介电常数测试装置,属于微波测试技术领域。圆柱形高Q谐振腔包括圆柱形腔筒1、上端盖10、下端盖6和两个微波能量耦合装置4,圆柱形腔筒1、上端盖10和下端盖6工作时相互接触,形成一个圆柱形谐振腔,所述上端盖10在圆柱形腔筒1中的位置连续可调,以实现高Q腔的谐振频率连续可调,所述微波能量耦合装置4位于圆柱形腔筒1的两侧。微波电介质复介电常数测试装置包括微波信号源7、本发明的圆柱形高Q谐振腔8、标量网络分析仪9。本发明的圆柱形高Q谐振腔,其腔长连续可调,谐振频率连续可变,尺寸较小,使用方便。因所采用腔体的谐振频率连续可调,可完成微波电介质复介电常数的扫频测试;测试过程快速,结果准确可靠。
搜索关键词: 一种 圆柱形 谐振腔 微波 电介质 介电常数 测试 装置
【主权项】:
1、一种圆柱形高Q谐振腔,包括圆柱形腔筒(1)、上端盖(10)、下端盖(6)和两个微波能量耦合装置(4)等四个部分,圆柱形腔筒(1)、上端盖(10)和下端盖(6)工作时相互接触,形成一个圆柱形谐振腔,其特征是,所述上端盖(10)在圆柱形腔筒(1)中的位置连续可调,以实现高Q腔的谐振频率连续可调,所述微波能量耦合装置(4)位于圆柱形腔筒(1)的两侧。
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