[发明专利]半导体器件边缘终端结构及方法有效

专利信息
申请号: 200510022821.6 申请日: 2005-12-08
公开(公告)号: CN1822390A 公开(公告)日: 2006-08-23
发明(设计)人: 加里·H·莱厄切尔特;彼得·J·兹德贝尔;戈登·M·格里芙娜 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 在一个实施方案中,在具有第一导电类型的一半导体层内形成一个边缘终端结构。该终端结构包括一个隔离槽和一个和半导体层相接触的导电层。该半导体层是在具有第二导电类型的一片半导体基片上形成的。在一个进一步的实施方案中,该隔离槽包括多个形状,这些形状包含部分半导体层。
搜索关键词: 半导体器件 边缘 终端 结构 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:具有一个边缘区的、具有第一导电类型的半导体基片;在该半导体基片上形成的、具有第二导电类型的半导体层;在邻近该边缘区的半导体层中形成的具有第二导电类型的第一掺杂区;耦合至第一掺杂区的第一导电层;以及在邻近第一掺杂区的半导体层中形成的隔离槽。
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