[发明专利]获取物理信息的方法、装置及装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 200510022863.X 申请日: 2005-12-12
公开(公告)号: CN1822373A 公开(公告)日: 2006-08-23
发明(设计)人: 户田淳 申请(专利权)人: 索尼株式会社
主分类号: H01L27/14 分类号: H01L27/14;H01L27/146;H01L31/18;H04N5/335
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 李亚非;梁永
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种用于获取物理信息的方法采用用于探测物理分布的器件,该器件包括:用于探测电磁波的探测部件;以及用于根据该探测的电磁波量来产生对应单位信号的单位信号产生部件。该探测部件包括具有一种其中叠置了在相邻层之间具有不同折射系数且每层具有预定厚度的多个层的结构的叠置构件,该叠置构件被设置在电磁波入射到的入射表面侧之上并且还具有反射该电磁波的预定波长范围组分并透射该剩余项的特性。
搜索关键词: 获取 物理 信息 方法 装置 制造
【主权项】:
1.一种用于采用一种器件基于单位信号获取物理信息的方法,该器件用于探测用于预定目的的物理分布,该器件包括:作为单元组件,一个用于探测电磁波的探测部件和一个用于根据由该探测部件探测的电磁波量来产生相应的单位信号并输出该单位信号的单位信号产生部件,并且按照预定顺序在相同衬底之上设置该单元组件;其中该探测部件包括具有一个其中叠置有多层的结构的叠置构件,该多层在相邻层之间具有不同折射系数且每层具有预定厚度,在电磁波入射到的入射表面侧上设置该叠置构件,该叠置构件具有反射该电磁波的预定波长范围组分的特性,并且透射该剩余项;以及由该探测部件探测透射通过该叠置构件的该透射波长范围组分,并且基于从该单位信号产生部件获得的该透射波长范围组分的单位信号来获取用于预定目的的物理信息。
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