[发明专利]获取物理信息的方法、装置及装置的制造方法有效
申请号: | 200510022863.X | 申请日: | 2005-12-12 |
公开(公告)号: | CN1822373A | 公开(公告)日: | 2006-08-23 |
发明(设计)人: | 户田淳 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | H01L27/14 | 分类号: | H01L27/14;H01L27/146;H01L31/18;H04N5/335 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 李亚非;梁永 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种用于获取物理信息的方法采用用于探测物理分布的器件,该器件包括:用于探测电磁波的探测部件;以及用于根据该探测的电磁波量来产生对应单位信号的单位信号产生部件。该探测部件包括具有一种其中叠置了在相邻层之间具有不同折射系数且每层具有预定厚度的多个层的结构的叠置构件,该叠置构件被设置在电磁波入射到的入射表面侧之上并且还具有反射该电磁波的预定波长范围组分并透射该剩余项的特性。 | ||
搜索关键词: | 获取 物理 信息 方法 装置 制造 | ||
【主权项】:
1.一种用于采用一种器件基于单位信号获取物理信息的方法,该器件用于探测用于预定目的的物理分布,该器件包括:作为单元组件,一个用于探测电磁波的探测部件和一个用于根据由该探测部件探测的电磁波量来产生相应的单位信号并输出该单位信号的单位信号产生部件,并且按照预定顺序在相同衬底之上设置该单元组件;其中该探测部件包括具有一个其中叠置有多层的结构的叠置构件,该多层在相邻层之间具有不同折射系数且每层具有预定厚度,在电磁波入射到的入射表面侧上设置该叠置构件,该叠置构件具有反射该电磁波的预定波长范围组分的特性,并且透射该剩余项;以及由该探测部件探测透射通过该叠置构件的该透射波长范围组分,并且基于从该单位信号产生部件获得的该透射波长范围组分的单位信号来获取用于预定目的的物理信息。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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