[发明专利]标签测试装置、标签测试方法以及标签测试程序无效
| 申请号： | 200510023096.4 | 申请日： | 2005-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN1841413A | 公开（公告）日： | 2006-10-04 |
| 发明（设计）人： | 川股浩 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社;富士通先端科技株式会社 |
| 主分类号： | G06K19/07 | 分类号： | G06K19/07 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 标签测试装置、标签测试方法以及标签测试程序。标签测试装置使用红外摄像机拍摄多个射频识别标签的图像，将其与存储的标准标签图案图像存储相比较，并且基于比较来检测有缺陷标签。无线电波收发器利用防冲突功能整批读取标签，标签响应计数器对标签响应的数量进行计数，并且有缺陷的标签检测器比较基于图像处理的热辐射标签的数量与标签响应计数器计数的标签响应的数量。如果热辐射标签的数量与响应标签的数量不匹配，则通过部分地屏蔽标签来改变被测试标签的数量，并且无线电波收发器在屏蔽范围逐渐改变时利用防冲突功能来重复整批读取标签，由此逼近其它可能有缺陷但发热的标签。 | ||
| 搜索关键词： | 标签 测试 装置 方法 以及 程序 | ||
【主权项】：
1、一种标签测试装置，用于把多个非接触IC标签暴露到无线电波或电磁波中，并且从该多个非接触IC标签中检测有缺陷IC标签，该标签测试装置包括：发送单元，其向非接触IC标签整批发送无线电波或电磁波；和检测单元，其基于在发送单元把无线电波或电磁波发送到非接触IC标签时非接触IC标签是否发热，来检测有缺陷IC标签。
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