[发明专利]X射线奥氏体测量标定试样的制备方法无效
| 申请号： | 200510023778.5 | 申请日： | 2005-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN1648646A | 公开（公告）日： | 2005-08-03 |
| 发明（设计）人： | 姜传海;洪波;余震 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;B22F3/00 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 | 代理人： | 王锡麟;王桂忠 |
| 地址： | 200240*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种用于材料分析测试技术领域的X射线奥氏体测量标定试样的制备方法，本发明具体步骤如下：(1)粉末颗粒尺寸筛选：对奥氏体粉末和铁素体粉末的粒颗进行筛选；(2)混粉：将奥氏体粉末和铁素体粉末放入无水酒精中，按照奥氏体体积分数，利用机械混合方式，将奥氏体粉末与铁素体粉末均匀地混合；(3)热压成型：在高温及真空状态下，将混合粉末热压成型为块体材料；(4)加工处理：利用上述块体材料加工出标定试样，在真空炉中进行退火处理。本发明所制备的X射线奥氏体测量标定试样，用于标定X射线衍射系统。标定试样表面美观，不易生锈，携带方便，奥氏体含量长期保持稳定，可以提高测量结果的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 奥氏体 测量 标定 试样 制备 方法 | ||
【主权项】：
1、一种X射线奥氏体测量标定试样的制备方法，其特征在于，具体步骤如下：(1)粉末颗粒尺寸筛选：对奥氏体粉末和铁素体粉末的粒颗进行筛选，使获得的粉末颗粒尺寸在2μm～5μm范围内；(2)混粉：按照奥氏体体积分数，利用机械方式，在无水酒精溶液中，将奥氏体粉末与铁素体粉末均匀地混合；(3)热压成型：在真空中对混合粉末进行加热，将奥氏体粉末与铁素体粉末热压成型，获得块体材料；(4)加工处理：利用上述块体材料加工成X射线奥氏体测量标定试样，在真空炉中进行充分加热退火处理。
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