[发明专利]弯曲曲率和弯曲方向的同时测量方法无效
| 申请号： | 200510024425.7 | 申请日： | 2005-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN1683903A | 公开（公告）日： | 2005-10-19 |
| 发明（设计）人： | 王义平;陈建平;饶云江 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 | 代理人： | 王锡麟;王桂忠 |
| 地址： | 200240*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种弯曲曲率和弯曲方向的同时测量方法，首先测量长周期光纤光栅弯曲特性，用作图法画出长周期光纤光栅LPFGA和LPFGB的谐振波长对圆周360°范围内各圆周弯曲方向的弯曲灵敏度曲线；把LPFGA和LPFGB和LPFGC用单模光纤相互级联，并埋入被测工程结构；测量谐振波长变化；计算弯曲曲率；根据测得的LPFGA和LPFGB谐振波长的变化、以及弯曲曲率，并对比弯曲灵敏度曲线判断出被测工程结构的弯曲方向。本发明同时实现了工程结构弯曲曲率和任意弯曲方向的测量，传感器体积小、成本低、全兼容于光纤、能容易地埋入被测工程该结构。 | ||
| 搜索关键词： | 弯曲 曲率 方向 同时 测量方法 | ||
【主权项】：
1、一种弯曲曲率和弯曲方向的同时测量方法，其特征在于，具体步骤如下：(1)测量长周期光纤光栅弯曲特性：首先搭建测量长周期光纤光栅弯曲特性的装置，然后用该装置测量高频CO2激光脉冲写入的两个长周期光纤光栅LPFGA 和LPFGB以及一个用紫外光写入的长周期光纤光栅LPFGC的弯曲特性，测量其谐振波长和幅值对弯曲方向的弯曲灵敏度，用作图法画出LPFGA和LPFGB的谐振波长对圆周360°范围内各圆周弯曲方向的弯曲灵敏度曲线；(2)光栅级联：把已测得弯曲特性的LPFGA、LPFGB和LPFGC用单模光纤相互级联，并埋入被测工程结构；(3)测量谐振波长变化：用宽度光源作为输入，用光谱仪实时监测三个长周期光纤光栅谐振波长的变化，测量某一时刻三个长周期光纤光栅谐振波长的变化；(4)计算弯曲曲率：根据LPFGC谐振波长的变化及其弯曲灵敏度计算出被测工程结构弯曲曲率的大小；(5)判别弯曲方向：根据测得的LPFGA和LPFGB谐振波长的变化、以及第(4)步计算出的弯曲曲率的大小，并对比第(1)步画出的弯曲灵敏度曲线判断出被测工程结构的弯曲方向。
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