[发明专利]同时测量弯曲曲率和弯曲方向的弯曲传感器无效
| 申请号： | 200510024426.1 | 申请日： | 2005-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN1664495A | 公开（公告）日： | 2005-09-07 |
| 发明（设计）人： | 王义平;陈建平;饶云江 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 | 代理人： | 王锡麟;王桂忠 |
| 地址： | 200240*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种同时测量弯曲曲率和弯曲方向的弯曲传感器，包括：长周期光纤光栅LPFGA、LPFGB和LPFGC，单模光纤，用单模光纤把长周期光纤光栅LPFGA、LPFGB和LPFGC相互级联，级联时长周期光纤光栅LPFGC处于长周期光纤光栅LPFGA和LPFGB之间，并且长周期光纤光栅LPFGA、LPFGB谐振波长对弯曲最敏感的方向相互交叉45°夹角。本发明同时实现了弯曲曲率和弯曲方向的测量，传感器体积小、成本低、全兼容于光纤、能容易地埋入被测工程该结构。 | ||
| 搜索关键词： | 同时 测量 弯曲 曲率 方向 传感器 | ||
【主权项】：
1、一种同时测量弯曲曲率和弯曲方向的弯曲传感器，包括：长周期光纤光栅LPFGA(1)、LPFGB(2)和LPFGC(3)，单模光纤(4)，其特征在于，用单模光纤(4)把长周期光纤光栅LPFGA(1)、LPFGB(2)和LPFGC(3)相互级联，级联时长周期光纤光栅LPFGC(3)处于长周期光纤光栅LPFGA(1)和LPFGB (2)之间，并且长周期光纤光栅LPFGA(1)、LPFGB(2)谐振波长对弯曲最敏感的方向相互交叉45°夹角。
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