[发明专利]采用裂像光楔对焦的验光仪无效

专利信息
申请号: 200510024903.4 申请日: 2005-04-05
公开(公告)号: CN1672627A 公开(公告)日: 2005-09-28
发明(设计)人: 唐大昌 申请(专利权)人: 上海东门子仪器仪表有限公司
主分类号: A61B3/103 分类号: A61B3/103;A61B3/028
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 20110*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于光学仪器技术领域,具体为一种采用裂像光楔对焦的验光仪。它是对原有验光仪的改进,具体是在验光仪的转像物镜与CCD物镜之间设置了一个裂像双光楔测距器,该测距器由两块半圆形光楔对称配置组成。其交点与像共面。这样,在调焦时,取景屏上的像线成为一条连续的清晰的直线,即对焦成功,如果取景屏上的像线为交叉形状,说明对焦不成功,应予重新调节。对人的视觉来说,判断二线是否重合比判断图像是否清晰要方便得多。因此,利用裂像双光楔进行对焦能大大提高对焦的精度和速度。
搜索关键词: 采用 裂像光楔 对焦 验光
【主权项】:
1、一种验光仪,其特征在于在转像物镜(5)和CCD物镜(7)之间设置有一个裂像双光楔测距器(6),该测距器(6)由两块半圆形光楔对称配置组成,光楔的交点与像面共面。
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