[发明专利]利用独立的源极形成的CMOS图像传感器件和方法有效
申请号: | 200510027511.3 | 申请日: | 2005-06-28 |
公开(公告)号: | CN1889250A | 公开(公告)日: | 2007-01-03 |
发明(设计)人: | 杨建平;辛春艳;霍介光;王延勇 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/82 | 分类号: | H01L21/82;H01L27/146 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 陈红 |
地址: | 201203*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于制造图像传感器的方法。该方法包括:在衬底中形成第一阱和第二阱;在所述衬底上形成栅极氧化物层;以及在所述栅极氧化物层上沉积第一栅区和第二栅区。所述第一栅区与所述第一阱相关联,所述第二栅区与所述第二阱相关联。此外,该方法包括在所述衬底中形成第三阱;注入第一多个离子,以在所述第一阱中形成第一轻掺杂源区和第一轻掺杂漏区;注入第二多个离子,以在所述第二阱中至少形成第二轻掺杂漏区;以及注入第三多个离子,以在所述第二阱中形成源极。 | ||
搜索关键词: | 利用 独立 形成 cmos 图像传感器 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于制造图像传感器的方法,所述方法包括:在衬底中形成一个第一阱和一个第二阱;在所述衬底上形成一个栅极氧化物层;在所述栅极氧化物层上沉积一个第一栅区和一个第二栅区,所述第一栅区与所述第一阱相关联,所述第二栅区与所述第二阱相关联;在所述衬底中形成一个第三阱;注入第一多个离子,以在所述第一阱中形成一个第一轻掺杂源区和一个第一轻掺杂漏区;注入第二多个离子,以在所述第二阱中至少形成一个第二轻掺杂漏区;注入第三多个离子,以在所述第二阱中形成一个源极;其中:所述第一阱和所述第二阱与CMOS相关联;所述第三阱与一个光电二极管相关联;所述注入第二多个离子的步骤和所述注入第三多个离子的步骤是两个独立的步骤;所述注入第三多个离子的步骤与范围为从40keV到80KeV的第一注入能量和范围为从103cm-2到105cm-2的第一注入剂量相关联。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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