[发明专利]基于电阻变化的非挥发性存储器、切换方法及制备方法无效
申请号: | 200510027549.0 | 申请日: | 2005-07-06 |
公开(公告)号: | CN1738051A | 公开(公告)日: | 2006-02-22 |
发明(设计)人: | 陈立东;王群;董睿;李效民 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | H01L27/105 | 分类号: | H01L27/105;H01L21/8239 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 潘振甦 |
地址: | 20005*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于电阻变化的非挥发性存储器、切换方法及制备方法,它是以Pt-Re1-xAxMnO3-Ag的三明治结构为基础单元,其中0.05<x<0.95,A为Ca或Ba,Re为La或Pr,其特征在于在顶电极Ag阵列中选择双节点A和A、B两点间间距大于薄膜厚度5倍以上;它们与底电极Pt阵列中的O点是通过金属导线连接的;电脉冲的作用是通过所选择的双节点施加的。通过改变电脉冲电压大小的方法进行5种形式切换而制作时用化学配比配料,最后SPS烧结作为靶材,采用脉冲激光沉积技术沉积薄膜,沉积在底电极上,制成三明治基础单元的。 | ||
搜索关键词: | 基于 电阻 变化 挥发性 存储器 切换 方法 制备 | ||
【主权项】:
1、一种基于电阻变化的非挥发性存储器,其特征在于以Pt-Re1-xAxMnO3-Ag的三明治结构为基础单元,其中0.05<x<0.95,A为Ca或Ba,Re为La或Pr;在顶电极Ag阵列中选择双节点A和B,A、B两点间间距大于薄膜厚度5倍以上;它们与底电极Pt阵列中的O点是通过金属导线连接的;电脉冲的作用是通过所选择的双节点施加的。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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