[发明专利]一种磁共振成像系统的检测方法无效
| 申请号： | 200510027661.4 | 申请日： | 2005-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN1718158A | 公开（公告）日： | 2006-01-11 |
| 发明（设计）人： | 王鹤;徐勤;刘颖;李鲠颖 | 申请（专利权）人： | 华东师范大学 |
| 主分类号： | A61B5/055 | 分类号： | A61B5/055;G01N24/08;G01R33/20 |
| 代理公司： | 上海蓝迪专利事务所 | 代理人： | 徐筱梅 |
| 地址： | 200062*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁共振成像系统的检测方法，特点是射频系统的检测是将一石英晶体放置在主磁体的线圈中，用一个射频激发脉冲对石英晶体进行多次照射，并采集石英晶体产生的机械共振信号，采集得到的信号相位保持相干，则射频系统正常；采集得到的信号相位发生漂移或者抖动，则射频系统自身存在故障。本发明除了在磁共振成像(MRI)仪器的日常维护中可以简便而有效地判别磁共振图像伪影的来源，还对磁共振成像(MRI)仪器的初次安装调试有一定指导意义，本发明中所采用的样品是使用非常广泛而且价格十分低廉的石英晶体，从而可以大大降低磁共振成像(MRI)设备的维护费用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁共振 成像 系统 检测 方法 | ||
【主权项】：
1、一种磁共振成像系统的检测方法，其特征在于它包括以下具体步骤：成像检测：正常→检测结束，非正常→关掉梯度系统；对核磁信号进行检测：正常→修理梯度系统直至成像检测正常→检测结束，非正常→对射频系统进行检测：正常→对磁体进行修理直至成像检测正常→检测结束，非正常→修理射频系统直至射频检测正常→成像检测：正常→检测结束，非正常→对磁体进行修理直至成像检测正常→检测结束。
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