[发明专利]带有角度测量装置的超声测距仪无效
申请号: | 200510028440.9 | 申请日: | 2005-08-04 |
公开(公告)号: | CN1731213A | 公开(公告)日: | 2006-02-08 |
发明(设计)人: | 赵春宇 | 申请(专利权)人: | 上海交通大学 |
主分类号: | G01S15/08 | 分类号: | G01S15/08;G01S3/00;G01C9/00 |
代理公司: | 上海交达专利事务所 | 代理人: | 王锡麟;王桂忠 |
地址: | 200240*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种用于测量技术领域的带有角度测量装置的超声测距仪,本发明包括:测距本体、测距方向指示激光器、角度传感器、测角支臂、测角方向指示激光器,在测距本体上设有测距方向指示激光器、角度传感器,测角支臂一端连接在角度传感器的转动部分上,另一端设有测角方向指示激光器。本发明增加角度测量装置,利用三角几何原理,间接测量距离,从而实现斜向距离的测量、点到线距离测量、三角形面积测量等复杂功能。 | ||
搜索关键词: | 带有 角度 测量 装置 超声 测距仪 | ||
【主权项】:
1.一种带有角度测量装置的超声测距仪,包括:测距本体(1),其特征在于,还包括:测距方向指示激光器(2)、角度传感器(3)、测角支臂(4)、测角方向指示激光器(5),在测距本体(1)上设有测距方向指示激光器(2)、角度传感器(4),测角支臂(4)一端连接在角度传感器(3)的转动部分上,另一端设有测角方向指示激光器(5)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海交通大学,未经上海交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200510028440.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:可写光学记录载体
- 下一篇:电子设备、方法以及通信系统