[发明专利]半导体工艺处理系统及其处理方法有效

专利信息
申请号: 200510028562.8 申请日: 2005-08-05
公开(公告)号: CN1909182A 公开(公告)日: 2007-02-07
发明(设计)人: 陈爱华 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)有限公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/68;B65G49/07;C23C16/00;C23F1/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 王洁
地址: 201201上海市华东路500*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种半导体工艺处理系统,其包括真空锁、传送室、以及一个或多个处理腔室;其中,传送室位于真空锁和处理腔室之间,处理腔室可围绕传送室设置;传送室内设有传送装置。本发明可以只通过传送装置的运动,而不需要真空锁或处理腔室在竖直方向调整位置,即可完成工艺件装卸或交换动作,从而可以更加迅速及低成本地装卸和交换工艺件,提高产能。本发明还公开了一种采用特殊设计的进排气系统的处理腔室,使得处理腔室内的各处理平台之间形成反应气体幕障,可以提升各处理平台之间的均一度,避免了不同处理平台之间的反应气体串扰。
搜索关键词: 半导体 工艺 处理 系统 及其 方法
【主权项】:
1.一种半导体工艺处理系统,包括传送室和处理腔室,传送室设有传送装置,处理腔室具有装卸口,其特征在于:该传送装置具有至少两个可以分别伸缩的传送臂,该传送臂可以同时指向该处理腔室的同一装卸口,并且可以分别在竖直方向调整至正对所述的同一装卸口的位置,以完成工艺处理件的取放。
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