[发明专利]纯直流高电场介电常数测量电路无效

专利信息
申请号: 200510029484.3 申请日: 2005-09-08
公开(公告)号: CN1737595A 公开(公告)日: 2006-02-22
发明(设计)人: 陈乐生;裘揆;陈大跃 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种测量技术领域的纯直流高电场介电常数测量电路,包括:高电压激励源、高电压电子开关、被测电容、过压保护电路和测量电路,高电压激励源产生两个幅值相差10V的高压电平;高电压电子开关的一端连接高电压激励源,另一端连接被测电容;高电压电子开关的功能类似于一个单刀双掷开关,将被测电容的一只引脚接到高电压激励源中两个直流高电平中的其中一个;被测电容的另一只引脚连接到测量电路的输入端;过压保护电路设置在测量电路的输入端和地线之间。本发明中的电介质材料处在纯直流高电场强度作用下,并且电场强度可以调节,有助于揭示电介质材料的介电常数和电场强度的关系。
搜索关键词: 直流 电场 介电常数 测量 电路
【主权项】:
1、一种纯直流高电场介电常数测量电路,包括:测量电路,其特征在于,还包括:高电压激励源、高电压电子开关、被测电容、过压保护电路,高电压激励源产生两个幅值相差10V的高压电平;高电压电子开关的一端连接高电压激励源,另一端连接被测电容;高电压电子开关的功能类似于一个单刀双掷开关,将被测电容的一只引脚接到高电压激励源中两个直流高电平中的其中一个;被测电容的另一只引脚连接到测量电路的输入端;过压保护电路设置在测量电路的输入端和地线之间。
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