[发明专利]一种随机响应信号测量与分析的方法无效
申请号: | 200510029686.8 | 申请日: | 2005-09-15 |
公开(公告)号: | CN1740800A | 公开(公告)日: | 2006-03-01 |
发明(设计)人: | 蔡良斌;严天宏;张国韦;袁志扬 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;H01L21/66 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 王敏杰 |
地址: | 201203上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及随机响应系统的信号测量与分析技术,特别是一种随机响应信号测量与分析的方法。它在Matlab环境下基于Spectrum Dynamics公司的SigLab测试系统,进行二次开发的测试方法和系统,可以在线评判、生成结果报告,其流程包括:①首先提供一个数据录入界面,以录入测试设备的信息和该产品和操作中的指标曲线信息;②根据上述录入的信息,在图形显示区形成一指标曲线,并显示录入的信息;③将各测试点的信息录入并在图形显示区形成测量曲线;④将指标曲线和测量曲线上的相应数值进行分析比较,并在运行结果显示区显示。该方法主要解决现有的方法常需要进行离线的分析、计算,再来判断结果,以致于造成停车会严重地影响生产率和产能的技术问题,可以很大地提高操作的准确性和简便性。 | ||
搜索关键词: | 一种 随机 响应 信号 测量 分析 方法 | ||
【主权项】:
1、一种随机响应信号测量与分析的方法,其特征在于:该方法是在Matlab环境下基于Spectrum Dynamics公司的SigLab测试系统进行二次开发的测试方法,在线进行随机数据的评判,并生成结果报告,其流程包括:①首先提供一个数据录入界面,以录入测试设备的信息和该产品和操作中的指标曲线信息;②根据上述录入的信息,在图形显示区形成一指标曲线,并显示录入的信息;③将各测试点的信息录入并在图形显示区形成测量曲线;④将指标曲线和测量曲线上的相应数值进行分析比较,并在运行结果显示区显示。
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