[发明专利]支柱瓷绝缘子的超声波探伤检测方法和探头有效
| 申请号： | 200510030426.2 | 申请日： | 2005-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN1948962A | 公开（公告）日： | 2007-04-18 |
| 发明（设计）人： | 严晓东 | 申请（专利权）人： | 华东电力试验研究院 |
| 主分类号： | G01N29/12 | 分类号： | G01N29/12;G01N29/04 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 左一平 |
| 地址： | 20043*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种支柱瓷绝缘子的超声波探伤检测方法，包括：a)向被检工件的检测面发射SH波；b)使用横波耦合剂将探头与被检工件的待检测面耦合；c)用探头在待检测面上进行扫查；d)使用瓷绝缘子试块调整所述探头的基准灵敏度和扫查灵敏度；e)检测待检测面的反射波，并将第一次接收到的反射波高达到缺陷设定值的反射波记录为缺陷信号；f)测量所述缺陷的长度；g)对反射波波高达到步骤e)记录的缺陷信号的工件予以判废。还公开了一种专用于上述方法的探伤检测探头，该探头发射的超声波是SH型横波。本发明的探伤检测方法具有高灵敏度、高可靠性和较大的检测范围，同时专用于该方法的探头具有小尺寸，在保证检测灵敏度的同时提高了瓷瓶可检率。 | ||
| 搜索关键词： | 支柱 绝缘子 超声波 探伤 检测 方法 探头 | ||
【主权项】：
1.一种支柱瓷绝缘子的超声波探伤检测方法，其特征在于，包括：a)向被检工件的检测面发射SH波；b)使用横波耦合剂将探头与被检工件的待检测面耦合；c)用所述探头在所述待检测面上进行扫查；d)使用瓷绝缘子试块调整所述探头的基准灵敏度和扫查灵敏度；e)检测被检工件的待检测面的反射波，并将第一次接收到的反射波高达到缺陷设定值的反射波记录为缺陷信号；f)测量所述缺陷的长度；g)对反射波波高达到步骤e)记录的缺陷信号的工件予以判废。
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