[发明专利]测量气液体温度、吸收、浓度、组分和折射率变化的装置无效

专利信息
申请号: 200510030764.6 申请日: 2005-10-27
公开(公告)号: CN1758049A 公开(公告)日: 2006-04-12
发明(设计)人: 陈洸;曹庄琪;顾江华;沈启舜 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G01N21/41
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种测量技术领域的测量气液体温度、吸收、浓度、组分和折射率变化的装置,上层衬底位于顶部,上层金属膜附着在其下表面上;上层金属膜之下紧贴着环形垫圈,环形垫圈之下紧贴着下层金属膜,下层金属膜附着在下层衬底上;上层衬底、上层金属膜组成的结合体与下层衬底、下层金属膜组成的结合体及两者之间的环形垫圈组成三层夹心结构,环形垫圈内部被上层金属膜和下层金属膜封闭的部分即为样品腔;上层金属膜、样品腔中的待测样本和下层金属膜组成波导结构,激光器输出的激光束入射到上述波导结构中,待测样本由导入导管导入样品腔,由导出导管导出样品腔。本发明灵敏度高、消耗量低、实时测量,尤其是生化反应中的实时浓度和反应过程检测。
搜索关键词: 测量 液体 温度 吸收 浓度 组分 折射率 变化 装置
【主权项】:
1、一种测量气液体温度、吸收、浓度、组分和折射率变化的装置,包括:激光器(1)、上层衬底(2)、上层金属膜(3)、样品腔(4)、下层金属膜(5)、下层衬底(6)、环形垫圈(8)、导入导管(9)、导出导管(10),其特征在于,上层衬底(2)位于顶部,上层金属膜(3)附着在其下表面上,上层金属膜之下紧贴着环形垫圈(8),环形垫圈(8)之下紧贴着下层金属膜(5),下层金属膜(5)附着在下层衬底(6)上,上层衬底(2)、上层金属膜(3)组成的结合体与下层衬底(6)、下层金属膜(5)组成的结合体及两者之间的环形垫圈(8)组成三层夹心结构,其中,环形垫圈(8)位于中间,环形垫圈(8)内部被上层金属膜(3)和下层金属膜(5)封闭的部分即为样品腔(4),上层金属膜(3)、样品腔(4)中的待测样本和下层金属膜(5)组成波导结构,激光器(1)输出的激光束经过扩束及聚焦后形成聚焦光束入射到该波导结构中,下层衬底(6)和下层金属膜(5)上开有小孔,其中插入导入导管(9)、导出导管(10),连通样品腔(4)。
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