[发明专利]纳米TiO2涂膜厚度的测量方法

摘要

本发明涉及的是两种纳米TiO₂涂膜厚度的测量方法。第一种是担载量法，它是将试样清洗、烘干后称重得Wo(g)，待试样涂膜后再清洗、烘干、称重得W₁(g)，测量涂膜试样表面积得s(cm²)，用公式h＝W_1－Wo/_s·p·d计算膜厚，式中d为已知，p可视膜密度在0.50～0.70中酌情选取。第二种是卸载量法，它是将涂膜试样清洗、烘干后称重得W₁(g)，待试样溶膜后再烘干、称重得Wo(g)，同时测其表面积得s(cm²)，用公式h＝W_1－Wo/_s·p·d计算膜厚，式中s与d值之选取已如上述。本发明第一种方法用于生产过程控制，第二种方法则用于涂膜产品检测。

主权项

1、纳米TiO2涂膜厚度的测量方法，其特征在于采用的是担载量法，具体步骤如下：A、试样清洗并于100℃下烘干10分钟，在1/10000天平上称重；B、对试样涂膜，80～100℃下干燥20分钟，400～600℃下煅烧2小时；C、清洗、烘干后称重并测量试样表面积，按下列公式计算涂膜厚度h h＝W1-Wo/s·p·d式中W1为试样涂膜后重量，Wo为试样涂膜前重量，s为试样涂膜面积，d为TiO2真密度4.0g/cm3，p为纳米TiO2的堆积致密系数，重量单位g，面积单位cm2，p取值0.50～0.70，其中致密膜取值0.70，小孔膜取值0.60，粗孔膜取值0.50。