[发明专利]发光二极管的自动化测试系统及方法有效
申请号: | 200510034935.2 | 申请日: | 2005-05-27 |
公开(公告)号: | CN1696726A | 公开(公告)日: | 2005-11-16 |
发明(设计)人: | 韩金龙;罗会才;杨少辰 | 申请(专利权)人: | 韩金龙;罗会才;杨少辰 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01M11/02;G01J3/00;G01J1/00;H01L21/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518103广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及发光二极管电性和光学测试领域,具体地说涉及一种发光二极管的自动化测试系统及方法。包括系统主机、操作控制台、PLC,系统主机包括测试发光二极管电性和光学参数的LED测试装置、对所测试发光二极管的数据进行处理的数据处理装置、以及实现数据处理装置与PLC相互通讯的接口,其特征在于:所述LED测试装置包括测试发光二极管电流电压的电性参数测试装置、测试发光二极管闸流的闸流测试装置、以及测试发光二极管光学参数的光谱测试装置。本发明发光二极管自动化测试系统及方法对正向电压、光学参数的测试精度更高,分级更准确,而且增加了对发光二极管亮度的测试。 | ||
搜索关键词: | 发光二极管 自动化 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种发光二极管的自动化测试系统,包括系统主机、操作控制台、PLC,系统主机包括测试发光二极管电性和光学参数的LED测试装置、对所测试发光二极管的数据进行处理的数据处理装置、以及实现数据处理装置与PLC相互通讯的接口,其特征在于:所述LED测试装置包括测试发光二极管电流电压的电性参数测试装置、测试发光二极管闸流的闸流测试装置、以及测试发光二极管光学参数的光谱测试装置。
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