[发明专利]测量超导材料微波表面电阻的复合谐振腔无效

专利信息
申请号: 200510038190.7 申请日: 2005-01-21
公开(公告)号: CN1645153A 公开(公告)日: 2005-07-27
发明(设计)人: 吉争鸣;吴培亨;许伟伟 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G01R27/04 分类号: G01R27/04;G01R27/02;G01N27/04
代理公司: 南京苏科专利代理有限责任公司 代理人: 孙鸥
地址: 210093*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种测量超导材料表面电阻的复合谐振腔。本发明采用在原有开式腔的介质谐振腔结构外加背景腔,形成复合谐振腔结构,并发明了同心定位机构,背景腔上设置微波吸收材料,吸收和衰减耦合装置沿径向辐射的所有寄生膜,一举解决了这个难题,同时又杜绝了其他的向内辐射,给内部的开式腔提供了一个微波全黑的背景,形成了一个虚拟的、无限大的空间,对中心定位的要求降低了,扩大了中心定位的裕度;背景腔的设置给定位机构提供了参照坐标,即在背景腔的腔壁上设置定位螺孔,采用定位螺杆分别对两块导电平板、中间介质进行精确的同心放置定位,大幅度提高了定位精度。本发明结构简单,操作方便。
搜索关键词: 测量 超导 材料 微波 表面电阻 复合 谐振腔
【主权项】:
1.测量超导材料微波表面电阻的复合谐振腔,上、下两个导电平板,中间是介质杆,与导电平板同心放置,两侧是耦合装置,由耦合电缆、电缆连接器组成,形成介质谐振腔,其特征在于在介质谐振腔外设置一个背景腔,形成复合谐振腔。
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