[发明专利]BRDF测量系统零位校准方法无效

专利信息
申请号: 200510038628.1 申请日: 2005-03-28
公开(公告)号: CN1693876A 公开(公告)日: 2005-11-09
发明(设计)人: 刘文清;张百顺;魏庆农;陈军;王亚萍;王锋平;胡军 申请(专利权)人: 中国科学院安徽光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/00 分类号: G01N21/00;G01N37/00;G01B11/30;G01J1/00
代理公司: 合肥华信专利商标事务所 代理人: 余成俊
地址: 230031安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种BRDF测量系统零位校准方法,利用可见准直光束校准,应用用几何光学方法,能够精确校准系统中三轴的零位,确保三轴互相垂直,精度可达0.1度,极大缩短了零位校准的时间。
搜索关键词: brdf 测量 系统 零位 校准 方法
【主权项】:
1、BRDF测量系统零位校准方法,其特征在于在BRDF测量系统基础上,(1)、在样品架正上方设置靶心标志,在探测器后方设置激光器,探测器及透镜正上方设置一个准直孔,在工作台上的全反射镜组的正上方设置一个准直孔,保证靶心与各准直孔及激光器同轴,打开波长为635nm的红光可见激光器后,如果光束依次通过几个准直孔照到靶心标志上,则表示探测器、透镜和空间直角坐标系的的Z轴在同一条直线上;(2)、分别在靶心标志与激光器的正前方,各设置一组全反射镜组,并在探测器上的准直孔后方再设置一个定位靶心标志,调整三个电机的位置,使得当激光器发出光经二组全反射镜反射,再经准直孔到达定位靶心标志,则表示空间直角坐标系中的X、Y、Z三轴互相垂直,即同时确定了三个电机的零位。
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