[发明专利]一种介电滤波薄膜材料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 200510038851.6 申请日: 2005-04-13
公开(公告)号: CN1707295A 公开(公告)日: 2005-12-14
发明(设计)人: 彭茹雯;王展;唐朝晖;黄秀清;王牧;林涛;胡安;蒋树声;冯端 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G02B6/132 分类号: G02B6/132;G02B6/293;G02F1/365;G02F1/355
代理公司: 南京苏高专利事务所 代理人: 阙如生
地址: 210093*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种介电滤波薄膜材料及其制备方法,该材料是在K9玻璃或硅片衬底上用磁控溅射技术,在高纯氩气氛中逐次生长出具有七层结构的薄膜材料,其中第一、三、五、七层为SiO2膜或Si膜,第二、四、六层为Si膜或SiO2膜,用该技术制备时膜厚控制精确,而且材料中间不存在空气间隙层,该材料结构稳定,而且容易控制,并具有在1210纳米至2230纳米的光波波长范围内得到光子禁带,在光通讯波长1.3微米和1.55微米处同时得到光的共振模式的功能,得到的共振峰的峰位精确地控制在光通讯波长1.29微米和1.55微米,与光通讯波长1.30微米和1.55微米的偏差分别为0.77%和0.00%。
搜索关键词: 一种 滤波 薄膜 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种介电滤波薄膜材料,由衬底和两种介电材料SiO2和Si所构成,在SiO2/Si多层结构中间夹有一个空气间隙层,其特征在于在衬底上逐次生长出具有七层结构的材料,其中第一、三、五、七层为SiO2膜,第二、四、六层为Si膜,或者第一、三、五、七层为Si膜,第二、四、六层为SiO2膜,每层SiO2膜厚为260-270纳米,每层Si膜厚为110-120纳米,中间的第四层Si膜厚为880-960纳米,或第四层SiO2膜厚为2080-2180纳米,中间不存在空气间隙层。
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